三維非接觸式表面形貌儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術、機械工程領域的工藝試驗儀器，於2007年01月06日啟用。
三維非接觸式表面形貌儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術、機械工程領域的工藝試驗儀器，於2007年01月06日啟用。技術指標 50X、10X、2.5X解析度：752X480像素、1000X1000像素、Z軸方向解析度5nm。主要功能 機械測量。
三維非接觸式光學表面輪廓儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2014年12月10日啟用。技術指標 垂直測量範圍27mm 垂直解析度2nm X-Y掃描速度20mm/s。主要功能 各種化學電源的電極、催化劑和關鍵膜材料的表面形貌、粗糙度、表面...
主要功能 非接觸式樣品表面形貌測量，對樣品本身沒有損傷，用於材料三維表面輪廓測量和粗糙度測量，台階高度測量，磨痕深度測量，寬度和體積定量測量，空間分析和表面紋理表征，平面度和曲率測量，二維薄膜應力測量，表面質量和缺陷檢測等。
非接觸式三維光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2017年8月31日啟用。技術指標 1、垂直測量範圍： 0.1nm至 10 mm，全量程閉環掃描，可連續測量0.1nm到10mm Z向起伏樣品，無需縫合拼接，垂直方向的解析度：< ...
三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器，於2016年06月01日啟用。技術指標 工作平台：可接納樣品不小於150x150mm，XY解析度0.078um，掃描平整度＜1um/100mm，Z的量程2nm到50um 測量光筆1:量程>300um，精度0...
非接觸式三維尺寸掃瞄器是一種用於物理學、工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器，於2019年12月11日啟用。技術指標 波長：1310nm;掃描深度3.5mm;A-scan 頻率 2.10kHz; Z軸解析度：主要功能 能夠對樣品的表面形貌、橫截面以及內部三...
0.005nm垂直掃描範圍：0-20mm垂直掃描解析度：1nm最大縱向掃描速度：96um/secRa測量精度：≤0.1nm反射率要求：0.05%-100%顯微鏡鏡頭：2.75X，10X，50X，100X。主要功能 非接觸式形貌儀，掃描速度快，圖像分析軟體強大。
非接觸式三維光學顯微鏡 非接觸式三維光學顯微鏡是一種用於機械工程領域的工藝試驗儀器，於2016年07月07日啟用。技術指標 檢測精度0.01nm。主要功能 零件表面形貌和粗糙度檢測。
12M 系統主要通過光學 DIC（Digital Image Correlation）數字圖像相關技術以及運動跟蹤技術的採集分析系統，獲得實驗結構表面的三維全場位移和應變分布圖，從而為結構與材料性能分析提供準確可靠的數據支持，可測數據參數包括： ① 3D 表面形貌...
自動變焦三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2014年5月8日啟用。技術指標 位移範圍(X、Y、Z軸)：100×100×100mm 樣品表面結構：表面形貌Ra＞10-15nm，Lc=2µm 最大掃描面積：10000mm2 最小測量...
表面形貌分析儀是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的工藝試驗儀器，於2013年1月8日啟用。技術指標 Z方向範圍: 0-327μm，精度≤0.1 nm ；台階高度重現性≤0.6nm； 探針半徑2um，壓力0....
360度）三維形貌，自動設定測量區間，自動完成圓周各面掃描，自動拼接各測試區域，創建全圓周（360度）三維資料庫；8)偏差測量；9)3D輪廓測量，截面分析；2.技術參數：1) 測量原理：非接觸式，光學三維形貌儀，基於Focus-Variation原理；...
光學式形貌測量儀是一種用於物理學、生物學、基礎醫學、材料科學領域的計量儀器，於2010年2月14日啟用。技術指標 Z Range:2.2mm after stiching >10mm Resolution:0.01nm。主要功能 通過光學的方法，非接觸測量樣品的三維表面形貌。
