X射線透視檢測儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2013年10月24日啟用。
基本介紹
- 中文名：X射線透視檢測儀
- 產地：德國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2013年10月24日
- 所屬類別：物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
分 辨 率:4LP/mm。
主要功能
無損檢測。
X射線透視檢測儀
相關詞條
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X射線透視檢測儀 X射線透視檢測儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2013年10月24日啟用。技術指標 分 辨 率:4LP/mm。主要功能 無損檢測。
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因此差異小於1%也能檢測出來。獲得榮譽 由於發明X射線斷層掃瞄器的傑出成就，豪斯菲爾德和科馬克一同獲得1979年諾貝爾醫學和生理學獎。X射線斷層掃瞄器主要用於癌症、骨質疏鬆症和關節炎的診斷，神經科的醫師們也用其找出導致精神異常的腦部器質性病變的原因。考古界還採用X射線斷層掃瞄器對古代木乃伊進行研究。
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- 手機透視儀
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- 手提X光機
BJI-XZ、BJI-UC等工業檢測X光機是可連線電腦進行圖像處理的X光機,此類工業檢測手提X光機為工廠家電維修領域提供了出色的解決方案。 礦山皮帶檢測手提X光機 此類手提X光機屬於專用型手提式X光機、專門用套用於礦山煤礦行業的傳輸皮帶安全透視檢測。機器可固定在皮帶面的兩端,對皮帶內部鋼絲等進行透視檢測,屬於高頻、低...
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