X射線分析儀是一種用於物理學、材料科學、電子與通信技術、產品套用相關工程與技術領域的特種檢測儀器，於2016年6月24日啟用。
基本介紹
- 中文名：X射線分析儀
- 產地：中國
- 學科領域：物理學、材料科學、電子與通信技術、產品套用相關工程與技術
- 啟用日期：2016年6月24日
- 所屬類別：特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 工業X光機
技術指標,主要功能,
技術指標
X射線管電壓：≥130KV X射線管電流：≥0.15mA 顯微鏡放大倍數：≥200倍（不包括數碼放大） 冷卻方式：風冷或更好 輸出器：不低於4影增 20fps配置，不低於200萬像素； 載物台：不小於550×450mm；行程分別大於X軸350mmY軸400mmZ軸400mm，載物台水平360°旋轉。 平板採集器可進行不小於70°旋轉。 泄露量：＜1uSv/h 空間解析度 ：≤ 5μm（標準評估板） 顯示器尺寸：不小於24英寸 輻射量在豁免範圍內，有豁免證書 配套輻射泄漏檢測裝置。
主要功能
可透視電腦板上半導體器件 可透視電腦板上功率器件 可透視電腦板上電子模組器件 可透視電腦板上貼片器件 可自動判定電腦板貼片器件焊接品質 可全形度拍攝後模擬生成被測物品3D圖形。
