X射線小角散射納米結構分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年11月8日啟用。
X射線小角散射納米結構分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年11月8日啟用。技術指標點光源、Hi-Satr二維實時檢測器，雙Goebel鏡平行光技術；θ/ θ測角儀；高低溫原位分析 豐富的套用軟體。1主要功...
小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW；Cu靶 Ka1，波長0.15405 nm；角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
對於非晶體材料，由於其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子範圍記憶體在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，...
1、主要用於凝聚態物理學、化學、材料、環境等領域，材料的物相分析、結構和微結構的表征；能對材料進行微區表征； 2、測定未知晶體結構； 3、物相的定性分析和定量分析； 4、測定精密點陣常數和固溶體類型和固溶度； 5、測定物質隨...
中間部分是X射線衍射分析方法和套用，包括物相定性和定量、晶體學參數測定、納米材料微結構的衍射線形分析、Rietveld結構精修和小角散射等；最後介紹了化學組成和原子價態、納米薄膜和介孔材料等的X射線分析。
1.最大輸出功率3kW，配有Cu靶和陶瓷X光管； 2.測角儀採用光學編碼器技術與步進馬達雙重定位，角度重現性達到0.0001°； 3.探測器部分相對與常規探測器強度提高100倍以上； 4.樣品台滿足常規物相分析、薄膜反射率分析、小角散射分析、...
X射線結構分析進展及新化物結構測定 隨著計算機技術的發展和套用，以X射線源強度和衍射儀器解析度的提高，用多晶法進行較複雜化合物晶體結構測定成為可能，並取得了很大進展。可用多晶法測定的結構數目已超過400個，並以每年50個左右的速度...
從統計理論描述各種體系的散射、界面層厚度的計算以及熱漫散射（即背景散射）等；儀器裝置、測試方法和數據處理，有關參數的計算方法；小角X射線散射在各領域研究中的套用實例以及如何從散射曲線中獲取形態特徵和結構信息。
