X射線檢測系統

X射線檢測系統

X射線檢測系統是一種用於物理學、電子與通信技術領域的核儀器,於2016年9月29日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X射線檢測系統
  • 產地:英國
  • 學科領域:物理學、電子與通信技術
  • 啟用日期:2016年9月29日
  • 所屬類別:核儀器 > 核輻射探測儀器 > X射線輻射儀
技術指標,主要功能,

技術指標

X射線透視儀已達到亞微米量級的空間解析度,圖像的放大倍數可達到104數量級,被檢測物體的尺寸能達到數百毫米,能實現被測物體3600的水平旋轉和±450的Z方向調整。

主要功能

用於檢測電子元器件及多層印刷電路板的內部結構、內引線開路或短路、粘接缺陷、焊點缺陷、封裝裂紋、空洞、橋連、立碑及器件漏裝等缺陷。

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們