納米X射線三維成像測量系統

納米X射線三維成像測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年12月25日啟用。

基本介紹

• 中文名：納米X射線三維成像測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2017年12月25日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 光譜成像儀

技術指標

8.04keV。

主要功能

微米體相三維檢測。