工業數字X射線成像檢測系統

工業數字X射線成像檢測系統

工業數字X射線成像檢測系統是一種用於材料科學、機械工程、核科學技術、航空、航天科學技術領域的特種檢測儀器,於2014年4月23日啟用。

基本介紹

  • 中文名:工業數字X射線成像檢測系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:材料科學、機械工程、核科學技術、航空、航天科學技術
  • 啟用日期:2014年4月23日
  • 所屬類別:特種檢測儀器 > 射線檢測儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

X射線機焦點尺寸0.4mm|1.0mm 最大能量320KeV 平板探測器像元尺寸200um,積分時間可調 空間解析度2.5 lp/mm 密度解析度1% CR掃瞄器雷射源焦點尺寸12.5um CR掃瞄器掃描解析度25um,50um(根據需要進行選擇)。

主要功能

用於樣品內部缺陷的射線檢測。

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們