X射線多目的測試系統

X射線多目的測試系統是一種用於物理學、化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2011年9月27日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線多目的測試系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2011年9月27日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

主要用於多晶薄膜，單晶薄膜X射線衍射，確定單晶取向及某些特徵，轉變不同幾何布置，研究取向態薄層材料或纖維材料。樣品平放不動，可作液態物質X射線衍射。

主要功能

物相分析，通過不同取樣研究相變，非晶態晶化過程，用不同衍射幾何研究多晶取向、聚合物聚集態結構、晶體應力、晶格常數、長周期、外延膜晶格匹配、塊狀單晶定向。