X射線與紅外聯用原位測試系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2019年7月23日啟用。
基本介紹
- 中文名：X射線與紅外聯用原位測試系統
- 產地：奧地利
- 學科領域：化學、材料科學
- 啟用日期：2019年7月23日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
氦氖雷射器中紅外光譜範圍7800-350cm-1或 11000-375cm-1 (XTKBr) 光譜解析度:優於0.4波數； 標配含重氫硫酸三甘鈦檢測器 (DTGS)，選配液氮冷卻碲化鎘汞檢測器 (MCT)。
主要功能
X射線與紅外聯用原位測試系統是研究亞微米級固態或液態結構的有力工具，可用於分析特大晶胞物質的結構分析以及測定粒度在幾十個納米以下超細粉末粒子（或固體物質中的超細空穴）的大小、形狀及分布。對於高分子材料，可測量粒子或空隙大小和形狀、共混高聚物相結構分析、長周期、支鏈度、分子鏈長度的分析及玻璃化轉變溫度的測量。可以給出測試樣品的分子分布信息，紅外快速成像系統可以將成像周期有效縮短至幾分鐘，這樣可以實現與小角紅外數據的同步採集。
