3D形貌測量儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的儀器，於2011年12月5日啟用。
3D形貌測量儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的儀器，於2011年12月5日啟用。技術指標測量範圍：100mm×100mm×100mm； 最大縱向解析度：10nm； 配置360度轉軸，可掃描物體的整體3D模型進行分析...
三維形貌儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年3月7日啟用。技術指標 1.雙LED光源（白光和綠光），工作模式分為VSI和PSI測試模式。垂直測量範圍：0.1nm至10mm，全量程閉環掃描，無需縫合拼接。垂直解析度：小於0.1nmRa;RMS重現性：0.01nm；垂直掃描速度：優於47微米/秒；橫向解析度：最小0.08微米。2...
三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器，於2016年06月01日啟用。技術指標 工作平台：可接納樣品不小於150x150mm，XY解析度0.078um，掃描平整度＜1um/100mm，Z的量程2nm到50um 測量光筆1:量程＞300um，精度0.06um，解析度(Z向)0.012um，解析度(側向)1.55um 測量光筆2：量程 ＞2500u...
自動變焦三維表面測量儀是一種用於機械工程領域的科學儀器，於2017年4月21日啟用。技術指標 1.產品功能：（1）產品測量方式採用面掃描方式，符合ISO25178-6標準；（2）表面三維形貌測量；（3）線粗糙度測量；（4）面粗糙度測量；（5）二維尺寸形狀測量；（6）體積，面積測量；（7）Real3D測量，全自動測量圓柱試樣...
三維光學干涉形貌儀 三維光學干涉形貌儀是一種用於航空、航天科學技術領域的物理性能測試儀器，於2007年10月17日啟用。技術指標 高度解析度：0.1 A。主要功能 表面微觀形貌測試。
它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模組、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描並建立表面3D圖像，通過系統軟體對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，並獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。
簡介 相移柵線投影測量儀可用於物體表面三維形貌和變形測量。由於該系統既可配備10倍變焦遠距離顯微成像鏡頭，也可配備普通變焦鏡頭，使得該系統能同時滿足細觀及巨觀的測量要求。不僅可用於微電子、生物、微機械等微細結構的形貌及變形測量，也可用於混凝土結構、岩土試樣等大型構件表面形貌和變形測量。系統配有專用的...
非接觸式3D光學成像輪廓測定儀是一種用於機械工程領域的分析儀器，於2015年12月22日啟用。技術指標 1.共聚焦物鏡：5X、10X、20X、50X、100X； 2.干涉物鏡：50X； 3.樣品最大高度：40mm，立柱調節範圍：180mm； 4.工作檯行程X方向：150mm，Y方向：150mm。主要功能 表面形貌的光學測量。
高精度三維表面測量儀系統是一種用於材料科學領域的科學儀器，於2014年7月8日啟用。技術指標 解析度＜0.01MM。主要功能 對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、台階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特徵進行測量和分析。
形貌測量儀是一種用於動力與電氣工程領域的儀器，於2010年9月2日啟用。技術指標 測量範圍：小於等於100 mm 干涉儀感測器解析度： 1020×1024 像素 測量結果： PV重複精度：1/1000λ RMS 重複精度：1/3000λ 測量精度：1/20λ（校準面的精度1/20λ）。主要功能 該設備為曼格林相移式數字波面干涉儀，體積小，重量...
優可測Atometrics是板石智慧型旗下專注於檢測領域的國產自主品牌。致力為客戶提供三維形貌測量產品、解決方案及相關服務。優可測主要產品包含白光干涉儀、線雷射測量儀、光譜共焦位移感測器、薄膜厚度測量儀、衍射三維形貌儀等不同原理的3D精密檢測測量光學儀器和線上測量單元。用於半導體、光學鏡片、材料、3C消費類電子、醫療...
400 mm x 400 mm 最大可測量樣品高度: 75 mm。主要功能 潤滑油、潤滑脂等潤滑材料的在不同材質摩擦副表面的減磨抗磨作用後，摩擦副表面會有微觀差異。通過微觀表面分析，考察潤滑材料的潤滑性能；採用非接觸式的光干涉測量方獲取微觀三維（3D）形貌輪廓，測量表面粗糙度、膜厚以及磨損量；。
三維干涉顯微鏡是一種用於機械工程、力學、物理學、航空、航天科學技術領域的物理性能測試儀器，於2011年06月09日啟用。技術指標 無接觸式測量物體表面三維形貌及粗糙度等。材料表面形貌測試。主要功能 在0.1nm到10mm的垂直掃描範圍內提供了快速、高精度的三維表面形貌測量功能，適用於測量薄膜厚度、機加工粗糙度、醫療...
