簡介
相移柵線投影測量儀可用於物體表面三維形貌和變形測量。由於該系統既可配備10倍變焦遠距離顯微成像鏡頭，也可配備普通變焦鏡頭，使得該系統能同時滿足細觀及巨觀的測量要求。不僅可用於微電子、生物、微機械等微細結構的形貌及變形測量，也可用於混凝土結構、岩土試樣等大型構件表面形貌和變形測量。系統配有專用的相移條紋圖像處理軟體，使得系統測量精度明顯提高，並且使用方便、操作簡單。
基本介紹
- 中文名：相移柵線投影測量儀
- 正弦柵線密度：任意可調
- 攝像頭解析度：1280×1024
- 成像鏡頭：f25mm
1、攝像頭解析度：1280×1024
2、 測量距離（f25鏡頭）：300mm～1200mm
3、、 測量解析度（X、Y最大尺寸的）：1/1000（X、Y方向），1/20000（Z方向）
4、 三維形貌最大測量範圍：X、Y（300mm×300mm），Z（100mm）
