高精度三維表面測量儀系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2014年7月8日啟用。
基本介紹
- 中文名:高精度三維表面測量儀系統
- 產地:英國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2014年7月8日
高精度三維表面測量儀系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2014年7月8日啟用。
高精度三維表面測量儀系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2014年7月8日啟用。技術指標解析度<0.01MM。1主要功能對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙...
“藍光式”掃瞄器是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器,與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較,其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差,整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面,藉助兩...
(模具,螺絲,金屬,配件,橡膠,PCB板,彈簧,五金,電子,塑膠、航空、航天等)它克服了傳統投影儀和二維影像測量的不足,是集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術於一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。由光學放大系統對被測...
XJTUDP 三維光學攝影測量系統,採用數字近景工業攝影測量技術(digital close-range industrialPhotogrammetry ),是攜帶型光學三坐標系統,用於測量物體表面的標誌點和特徵的精確三維坐標。用於對大型或超大型(幾米到幾十米)物體的關鍵點進行...
三維網點測量儀由顯微系統、CCD攝像頭、測量觀察軟體、機械結構等部分構成。三維網點測量儀將網點圖像經顯微鏡放大後,通過CCD攝像頭獲得圖像,然後經計算機軟體處理、輸出,能及時而精確的反映網點狀態並加以分析。網點測量儀主要用於網點的...
三維輪廓測量儀(工業三維掃瞄器)以藍光3D掃描條紋技術為基礎,在圖像採集的過程中,可有效過濾周圍環境光干擾,對於深色表面、反光表面,可提高3D掃描質量和精度,提升3D數據質量。系統自動監測技術 三維輪廓測量儀(工業三維掃瞄器)在工作...
三坐標測量儀簡稱CMM,自六十年代中期第一台三坐標測量儀問世以來,隨著計算機技術的進步以及電子控制系統、檢測技術的發展,為測量機向高精度、高速度方向發展提供了強有力的技術支持。CMM按測量方式可分為接觸測量和非接觸測量以及接觸和...
三維測量可定義為“一種具有可作三個方向移動的探測器,可在三個相互垂直的導軌上移動,此探測器以接觸或非接觸等方式傳送訊號,三個軸的位移測量系統 經數據處理器或計算機等計算出工件的各點坐標(X、Y、Z)及各項功能的測量”。
三維數字圖像測量系統是一種用於材料科學、機械工程、電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2016年07月20日啟用。技術指標 1.1採用數字相關(DIC)測量方式,通過兩個CCD測量相機,獲得三維表面全場的應變分布數據;1.2應變範圍:0.01%~...
非接觸光學三維形貌測量系統是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2007年12月27日啟用。技術指標 垂直解析度1.0A。主要功能 該儀器具有超高解析度,超高精度能做各種固態樣品表面三維微觀形貌。有數字量輸出功能。
三維動態測量系統是一種用於自然科學相關工程與技術領域的物理性能測試儀器,於2012年11月27日啟用。技術指標 測量範圍1.5m-6m,在6m測量距離下精度為0.25mm-0.45mm,標識點30個,頻率最高至4500Hz,配分析軟體包。主要功能 利用紅外測量...
而此款雷射測距儀即可透過本身的水平旋轉或系統內部的旋轉鏡(rotating mirrors)達成此目的。旋轉鏡由於較輕便、可快速環轉掃描、且精度較高,是較廣泛套用的方式。典型時差測距式的雷射掃瞄器,每秒約可量測10,000到100,000個目標點。...
光學三維應測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年07月07日啟用。技術指標 自由調節應變測量範圍,高精度(最高可達0.01%)大位移大應變測量(>>100%)。主要功能 對材料的力學性能進行測試,可進行三維實時測試...
雷射三維掃描測量儀是一種用於地球科學、水利工程領域的物理性能測試儀器,於2012年4月20日啟用。技術指標 掃描半徑為300m。主要功能 高效率、高精度提供掃描物體表面的三維點雲數據,用於獲取高精度高解析度的數字地形模型。
幾何量測量主要包括角度、距離、位移、直線度和空間位置等量的測量,其中最為通用的是確定位置的三維坐標測量,目前可以實現大尺寸三維坐標測量的方法按所使用的主要感測器可以分八類:三坐標測量機、數字攝影三坐標測量系統,如美國GSI公司的V...