高性能微區X螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月9日啟用。
微區X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年7月1日啟用。技術指標 樣品台行程：270 mm x 270 mm x 100 mm，承載5 kg樣品台精度： ±2 μm（XY軸）， ±10 μm（Z軸）；10倍率和70倍率CCD放大。主要功能 主要...
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X螢光（二次X射線），探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的...
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分...
同時樣品受激發後發射某一元素的特徵X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此，X射線螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。為了滿足現代企業管理和生產要求...
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍：O～U (Be～N需另外配置分光晶體)；測量範圍ppm～100%;檢測器：流氣正比探測器和閃爍探測器；長期穩定性：0.04%。主要...
X螢光光譜儀EDX1800B是眾和儀器最新推出，針對EDX1800B在各個領域的廣泛套用。性能優勢 下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的套用 移動平台：精細的手動移動...
x射線螢光光譜儀 主要用途 儀器是較新型X射線螢光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用於煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
1、目前的台式X射線螢光光譜儀普遍使用最新的矽漂移探測器技術，而且擁有全面的數據追溯能力，也可以選擇各種軟體功能，其性能接近甚至一些方面超越了大型落地式光譜儀。2、台式X射線螢光光譜儀對元素周期表上氟（F）及其以後的元素給出準確...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍：O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍：0.1ppm到100% 高壓發生器： S8 Tiger最大功率≥4kW；最大電壓≥60kV，20-60 kV 間 1 ...
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍：Be（4）－U（92） 2. 測角儀重現性：0.0001度。主要功能 （1）樣品中不同元素的定性...
X射線螢光顯微分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2005年6月8日啟用。技術指標 分析元素Na-U，能量解析度FWHM＜150eV，最大可分析樣品400mm×350mm×150mm，X射線束徑10um、100um。主要功能 材料分析，微區成分分析，光學圖像...
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
微聚焦X射線螢光能譜儀是一種用於考古學領域的分析儀器，於2016年7月29日啟用。技術指標 光學顯微鏡引導，尖銳X射線（微米到毫米），可實現微區元素分析和線掃描、面掃描分析。電壓，10to 50kV ,調整階躍值為1kV；電流10 to 1000μA...
手持式X螢光光譜儀是是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的儀器，可套用於各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究，有長時間工作、輕巧方便等優點。儀器簡介 手持式能量色散分析儀，是為野外、現場X螢光分析套用專門開發的...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
波長型X螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2015年4月10日啟用。技術指標 測量元素：O-U，B單通道；含量範圍：ppm-100%；B可測到500ppm；光管最大功率：4kW；高壓發生器最大功率：4kW。主要功能 能夠...
超級X螢光光譜儀 超級X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年11月17日啟用。技術指標 元素分析範圍從硫（S）到鈾（U）。分析含量一般為0.1ppm到99.9％。主要功能 材料分析。
第四節 各種探測器性能比較 一、波長色散與能量色散能力 二、探測器解析度比較 三、探測器的選用 參考文獻 第五章 X螢光光譜儀 第一節 波長色散X射線螢光光譜儀 一、X射線光管、探測器與光譜儀結構 二、分光晶體及解析度 三、脈衝...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器，於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件， Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
順序式X射線螢光光譜儀，成份分析儀器，主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍：F-U;分析含量範圍：微量（ppm）一常量（%）主要用於各種岩礦和建材的分析，如：矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管，最大功率可達4kW（60kV，125mA）的高壓發生器；晶體 8塊，覆蓋了程式中必須使用的所有波長；測角儀: 2θ角準確度0.0025...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍：13到98度28波 分析晶體：氟化鋰200，可選其他晶體 元素範圍：Kα 22-48（鈦到銀） 元素範圍：Lα 56-...
此外，後期生產的儀器，可作X射線背散射照相、透視照相。能兼作透射電鏡、能進行電子衍射、能作電子螢光觀察等。第一台電子探針是法國製成的，是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。1953年前蘇聯製成了X射線微區分析儀，以後...
