超高分辨透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學、交通運輸工程領域的分析儀器,於2013年4月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:超高分辨透射式電子顯微鏡
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學、交通運輸工程
- 啟用日期:2013年4月23日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
超高分辨透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學、交通運輸工程領域的分析儀器,於2013年4月23日啟用。
超高分辨透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學、交通運輸工程領域的分析儀器,於2013年4月23日啟用。技術指標 1. 電子槍: LaB6(六硼化鑭); 2. 點解析度:0.23 nm; 3. 線解析度:0.14 nm; 4. 加速電壓: 200kV; 5. ...
超分辨透射電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、生物學、農學領域的分析儀器,於2009年10月27日啟用。技術指標 1.點解析度:0.19 nm 2.線解析度:0.14 nm 3.加速電壓:80,100,120,160,200kV 4.傾斜角:25 5.EDS:13 主要...
高分辨透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年11月20日啟用。技術指標 點解析度:0.19nm; 線解析度:0.14nm; TEM解析度:0.20nm;放大倍率: 2000-1,500,000 X ;加速電壓:200kV ; 傾斜角:±25°;能譜...
超高分辨透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2005年12月1日啟用。技術指標 工作電壓:300KV, 點解析度:1.7A, 線解析度:1.4A。 附帶能譜分析儀, 微區成份分析區小到1nm, 分析元素Z>10。 附帶CCD相機。主要功能 主...
1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長要比可見光和紫外光短得多,並且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比,也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達0.2nm。簡介 電子顯微鏡與光學顯微鏡的...
高分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月10日啟用。技術指標 1.Point Resolution: 0.23nm 點解析度:0.23nm 2. Lattice Resolution: 0.102nm 晶格解析度:0.102nm 3. Lattice Resolution on STEM ...
場發射超高分辨透射電子顯微鏡是一種用於生物學、化學、物理學、農學領域的分析儀器,於2017年6月21日啟用。技術指標 加速電壓200 kV;TEM晶格解析度~0.1 nm;STEM解析度~0.16 nm;SEI解析度~0.5 nm;放大倍率:TEM:500x~2Mx;...
超高分辨掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年12月22日啟用。技術指標 15 KV:解析度0.8nm(工作距離4nm), 1 KV: 1.1 nm (減速模式),5軸馬達自動驅動。主要功能 表面形貌分析和測量,端面膜厚...
超高分辨場發射掃描電子顯微鏡是一種用於能源科學技術、航空、航天科學技術、考古學領域的分析儀器,於2014年9月1日啟用。技術指標 次電子圖像分率:1.0 nm(加速電壓 15 kV, WD=4 mm) 1.3 nm(著陸電壓 1 kV, WD=1.5 mm) ...
高分辨場發射透射電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、生物學領域的分析儀器,於2012年11月2日啟用。技術指標 場發射電子槍,加速電壓:20-200kV連續調節,放大倍數:25-1,000,000,點解析度:0.24nm;線解析度:0.102nm,信息解析度...
超高分辨率掃描電子顯微鏡是專門為現今技術研究和發展設計的超高分辨率儀器。目錄 1 產品介紹 2 產品特點 產品介紹 冷場發射掃描電子顯微鏡m213451是專門為現今技術研究和發展設計的超高分辨率儀器 [1] 。獨特之處在於使用複合檢測器允許同...
高分辨透射電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2003年12月1日啟用。技術指標 點解析度: 0.19nm。放大倍數:×50-×1500,000。主要功能 對各種材料的物質表面及內部進行形貌觀察,電子衍射分析及高分辨電子顯微術研究,晶體結構及晶體...
透射電子顯微鏡是研究固態物質顯微形貌、晶體結構和測量微小體的尺寸和形狀的儀器,廣泛套用於高分子材料、納米材料、金屬材料、陶瓷、冶金、生物、醫學、地質、半導體、仿生學等各個領域以及工農業生產中。通過透射電子顯微鏡可以方便的觀察到...
超高分辨冷場掃描電子顯微鏡是一種用於能源科學技術領域的分析儀器,於2017年1月16日啟用。技術指標 主要技術特點:(1)優秀的低加速電壓成像能力,1kv解析度可達1.3nm;(2)Upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像;(3)可以...
300kV高分辨透射電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2008年7月1日啟用。技術指標 1.信息解析度極限:0.14nm,2.點解析度:0.20nm,3.線解析度:0.10nm,4.高分辨STEM解析度:0.17nm,5.樣品最大傾角:±40o。主要...
透射式電子顯微鏡 透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2006年12月15日啟用。技術指標 點分辨率:0.23納米;放大倍數:2,000~1,500,000;加速電壓:最大200KV。主要功能 透射式電子顯微鏡。
126透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、生物學領域的分析儀器,於2009年12月31日啟用。技術指標 分辨率:0.2nm (晶格像) 加速電壓:40kV ~ 120kV 放大倍率: 連續放大模式:x200~x600,000 低倍模式:x50 ~ x1,000 圖像旋...
場發射高分辨電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2005年8月6日啟用。技術指標 性能指標:點解析度0.19 nm,線解析度0.14 nm,EELS能量譜解析度0.7 eV,EDS能量解析度136 eV。主要功能 固體材料結構和成分分析。
120kv高分辨透射電子顯微鏡 120kv高分辨透射電子顯微鏡是一種用於基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器,於2018年11月30日啟用。技術指標 解析度0.2nm。主要功能 細胞超微結構觀察。
電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構;掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌,也能與X射線...
1. 利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。2. 利用掃描透射模式時物鏡的強激勵,可以實現微區衍射。3. 利用後接能量分析器的方法可以分別收集和處理彈性散射和非彈性散射電子。4. 進行高分辨分析、成像及生物大...
0.10nm;信息解析度≤0.15nm。主要功能 可對金屬、無機非金屬材料、陶瓷材料和各種納米材料進行透射電子顯微像,高分辨像,電子衍射,掃描透射分析,能譜微區點、線和面的元素成分分析。對樣品進行能量過濾像和能量損失譜分析。
透射電子顯微鏡系統是一種用於基礎醫學、臨床醫學、預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器,於2012年5月8日啟用。技術指標 解析度:線解析度 ≤0.21nm; 加速電壓:40-120kV; 放大倍數: 低倍模式:≤ 50倍 ~ ≥1000倍範圍; 高分辨...
於2013年12月13日啟用。技術指標 點解析度:0.19 nm; 晶格解析度:0.10 nm; 掃描透射晶格解析度:0.2 nm ;能譜能量解析度:136 eV。主要功能 TEM像、高分辨像、STEM像、選區電子衍射、HAADF像、暗場像、微區元素成分。
台式透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2018年05月02日啟用。技術指標 SEM (BSE detector) resolving power 2 nm TEM resolving power 2.5 nm。主要功能 TEM, ED, STEM, SEM。
透射式電子顯微鏡及圖像採集系統是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2010年11月25日啟用。技術指標 在加速電壓100KV時,用底插相機實現0.2納米晶格分辨率。實際使用側插相機時,可觀察到1納米大小顆粒物。主要...
高分辨電鏡是用來觀察很薄試樣的相位襯度像的其有厚尺度分辨本領的透射電鏡。高分辨電鏡通常指用來觀察很薄試樣的相位襯度像(點陣像和結構像)的其有厚尺度分辨本領的透射電鏡.若將電子的加速電壓提高到1 Llf if 1k G",則觀察試...
二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。簡介 掃描電鏡(SEM)是介於透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀...