超高分辨透射電子顯微鏡

基本介紹

• 中文名：超高分辨透射電子顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2005年12月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

工作電壓:300KV, 點解析度:1.7A, 線解析度:1.4A。 附帶能譜分析儀, 微區成份分析區小到1nm, 分析元素Z>10。 附帶CCD相機。

主要功能

主要套用於金屬材料、無機非金屬材料、納米材料的微觀組織觀察及結構分析。