高分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年11月10日啟用。
基本介紹
- 中文名：高分辨透射電子顯微鏡系統
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2015年11月10日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
1.Point Resolution: 0.23nm 點解析度夜舟疊拳：0.23nm 2. Lattice Resolution: 0.102nm 晶格櫃拒習解析度：0.102nm 3. Lattice Resolution on STEM image: 0.20nm 掃描透挨鞏祝雅承凶射附地犁件解析度：0.20nm 4. Minimum Spot Size: 0.5nm 束斑尺寸：0.5nm 5. Accuracy of Magnification: ± 10% 放大倍數誤差： ± 10% 6. Vacuum: Less than 2？10-5 Pa 真空度：優於2×10-5 Pa 7. Specimen Tilt Angle 樣品傾斜角悼嘗墊 X: 35？閥連盛狼 (Shift X=0, Y=0, Z=0) X軸：±35° (Shift X=0, Y=0, Z=0) Y: ？30？ (Shi。
主要功能
高分辨成像，電子衍射，STEM BF HAADF成像，EDX元素分析。
