高分辨透射電鏡

高分辨透射電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2003年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：高分辨透射電鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2003年12月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

點解析度: 0.19nm。放大倍數:×50-×1500,000。

主要功能

對各種材料的物質表面及內部進行形貌觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術研究，晶體結構及晶體性能進行研究，配合能譜儀可以對各種元素進行定性、定量及半定量的微區分析，廣泛套用於高分子材料、催化劑、潤滑材料、地質礦物、金屬沙漠、生物醫學等方面。