高速電子撞擊材料後,材料內層電子形成空位,外層電子向空位躍遷會輻射x射線。不同材料x射線波長不同,所以叫特徵x射線。
又稱標識射線譜,具有特定的波長,且波長取決於陽極靶元素的原子序數。
只有當管壓超過某一特定值時才能產生特徵X射線。特徵X射線譜是疊加在連續X射線譜上的。
基本介紹
- 中文名:特徵x射線光譜
- 外文名:Characteristic x rayspectrum
高速電子撞擊材料後,材料內層電子形成空位,外層電子向空位躍遷會輻射x射線。不同材料x射線波長不同,所以叫特徵x射線。
又稱標識射線譜,具有特定的波長,且波長取決於陽極靶元素的原子序數。
只有當管壓超過某一特定值時才能產生特徵X射線。特徵X射線譜是疊加在連續X射線譜上的。
特徵x射線是一線性光譜,由若干互相分離且具有特定波長的譜線組成,其強度大大超過連續譜線的強度並可疊加於連續譜線之上。這些譜線不隨x射線管的工作條件而變,只取決於陽極靶物質。產生特徵X射線譜的根本原因是原子內層電子的躍遷。名詞...
(1)全譜定性分析 驅動分光譜儀的晶體連續改變衍射角,記錄X射線信號強度隨波長的變化曲線。檢測譜線強度峰值位置的波長,既可獲得樣品微區內所含元素的定性結果。(2)定量分析 根據元素的特徵X射線強度與元素在樣品中的濃度成正比的...
EDX,全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy,能量色散X射線光譜儀 作用 EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的, 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中...
X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特徵X射線(X光螢光)而進行物質成分分析和化學態研究。1948年由H.費里...
其次,與原子發射光譜法相比,除輕元素外,特徵(標識)X射線光譜基本上不受化學鍵的影響,定量分析中的基體吸收和增強效應較易校正或克服,譜線簡單,互相干擾比較少,且易校正或排除。X射線螢光分析法可用於冶金、地質、化工、機械、...
X光譜計簡稱:XRF光譜儀,是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
X射線熒光譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值,其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。出處 《材料科學技術名詞...
因此,只要測出螢光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是螢光X射線定性分析的基礎。此外,螢光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關係,據此,可以進行元素定量分析。主要用途 X螢光光譜儀根據各元素的特徵X射線的強度,可以 ...
X射線吸收光譜法(X-ray absorption spectrometry)是2015年全國科學技術名詞審定委員會公布的計量學名詞,出自《計量學名詞》第一版。定義 每一元素對一定波長的X射線都有特徵吸收,根據X射線透過試樣前後強度的變化來進行定性和定量分析的...
因此,只要測出螢光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是螢光X射線定性分析的基礎。此外,螢光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關係,據此,可以進行元素定量分析。主要用途 X螢光光譜儀根據各元素的特徵X射線的強度,也可...
X射線螢光分析是確定物質中元素的種類和含量的一種方法,它利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特徵X射線(X光螢光)而進行物質成分分析和化學態研究。X射線螢光光譜儀由以下幾部分組成:X射線發生器(X...
螢光X射線分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特徵X射線(X光螢光)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。歷史背景 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S....
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
同時樣品受激發後發射某一元素的特徵X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關,因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求...
撞擊過程中,電子突然減速,其損失的動能會以光子形式放出,形成X光光譜的連續部分,稱之為軔致輻射。通過加大加速電壓,電子攜帶的能量增大,則有可能將金屬原子的內層電子撞出。於是內層形成空穴,外層電子躍遷回內層填補空穴,同時放出...
X射線螢光分析儀器分為四部分:X光源;分光晶體;檢測器;記錄顯示;按Bragg方程進行色散;測量第一級光譜n=1;檢測器角度 2 ;分光晶體與檢測器同步轉動進行掃描。(1)X射線管(光源)分析重元素:鎢靶 分析輕元素:鉻靶 靶材的原子...
第一節 X射線螢光光譜的產生及其特點 第二節 X射線螢光分析技術的新套用 一、在生物、生命及環境領域中的套用 二、在材料及毒性物品監測中的套用 第三節 X射線螢光光譜儀研製進展 參考文獻 第二章 基本原理 第一節 特徵X射線的產生...
X射線吸收[式]光譜儀 測定連續X射線透過試樣後產生的特徵吸收單色X射線的儀器,最適合於有機溶劑等的分析。
X射線光譜系統是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於1981年12月3日啟用。技術指標 X射線發生器:3kW或18kw, 額定電壓:20-60kV, 額定電流:2-80mA, 穩定度:±0.005%以內;X射線防護。主要功能 物相分析。
又稱比例法,Ca/Cb=KabIaIb,式中Kab,是與樣品原度和濃度無關的因子,Ca,Cb分別為a,b元素在樣品中的含量,由計算或實驗得到,Ia,Ib分別為電子入射至含有a,b兩元素的樣品後產生的特徵X射線強度。
X光吸收光譜(X-ray absorption spectroscopy,縮寫:XAS)是廣泛套用於取得氣態、分子及凝體(例如,固體)中,目標原子之區域(原子尺度)結構資訊及電子狀態的一種技術。光源 X光吸收光譜可藉由調變X光光子能量,於目標原子束縛電子之激發...
第一節 X射線螢光光譜的產生及其特點 第二節 X射線螢光分析技術的新套用 一、在生物、生命及環境領域中的套用 二、在材料及毒性物品監測中的套用 第三節 X射線螢光光譜儀研製進展 參考文獻 第二章 基本原理 第一節 特徵X射線的...
ROHS檢測儀就是X射線螢光光譜儀,其分析原理也就是X射線螢光光譜儀的分析原理。X射線螢光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線螢光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線螢光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角...
EMPA:電子顯微探針是指用聚焦很細的電子束照射要檢測的樣品表面,用X射線分光譜儀測量其產生的特徵X射線的波長和強度。由於電子束照射面積很小,因而相應的X射線特徵譜線將反映出該微小區域內的元素種類及其含量。探針分析 EMPA--Electron...
質子激發X螢光光譜分析法PIXE是用加速後的高能質子作為激發源,將高能質子入射到樣品上誘發樣品原子發射特徵X射線,根據X射線譜的能量和強度來確定被測樣品元素種類和含量的檢測方法。PIXE=Particle Induced X-ray Emission 粒子誘發X射線...
稱峰底(本底)比x射線螢光光譜分析時,所測定的譜峰強度值1,)與背景(本底)強度值(jn)之比,即IIf v, [1] 峰/背比(P/B):特徵X射線的強度與背底強度之比稱為峰背比P/B,在進行高精度分析時,希望峰背比P/B高.按照札盧澤克...