混合型半導體探測器

混合型半導體探測器是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年12月20日啟用。

基本介紹

• 中文名：混合型半導體探測器
• 產地：法國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2013年12月20日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器

技術指標

感測器厚度：450mm；性能等級： 有效探測像素點超過總面積的99,97%；專門配置的數據採集電腦。

主要功能

結合快門數據採集，感測器面積大，可以輕而易舉的採集斑點的大單元的高解析度衍射數據。出色的穩定性，可使用水冷式的檢測器，即使是很長的曝光時間，也具有準確的精度，以確定和減去溶劑散射SAXS測量；可以直接探測X射線，與其他探測器技術相比能夠獲得更清晰，更易分辨的信號；具有讀取時間短和連續採集的特點；連續可調的能量閾值的選項可以有效抑制螢光信號。套用方向可與實驗室的X射線裝置配合使用，也可以與同步輻射X-射線散射配合採集信號，從事生物體系和高分子材料體系的微觀結構信號的採集。