混合型半導體探測器

混合型半導體探測器

混合型半導體探測器是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年12月20日啟用。

基本介紹

  • 中文名:混合型半導體探測器
  • 產地:法國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2013年12月20日
  • 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

感測器厚度:450mm;性能等級: 有效探測像素點超過總面積的99,97%;專門配置的數據採集電腦。

主要功能

結合快門數據採集,感測器面積大,可以輕而易舉的採集斑點的大單元的高解析度衍射數據。出色的穩定性,可使用水冷式的檢測器,即使是很長的曝光時間,也具有準確的精度,以確定和減去溶劑散射SAXS測量;可以直接探測X射線,與其他探測器技術相比能夠獲得更清晰,更易分辨的信號;具有讀取時間短和連續採集的特點;連續可調的能量閾值的選項可以有效抑制螢光信號。套用方向可與實驗室的X射線裝置配合使用,也可以與同步輻射X-射線散射配合採集信號,從事生物體系和高分子材料體系的微觀結構信號的採集。

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