[半導體探測器的]死層

[半導體探測器的]死層（dead layer [of semiconductor detector]）是2015年公布的計量學名詞。

基本介紹

• 中文名：[半導體探測器的]死層
• 外文名：dead layer [of semiconductor detector]
• 所屬學科：計量學
• 公布時間：2015年

定義

半導體探測器中緊接耗盡層的不靈敏部分。待測粒子在其中損失的能量對形成最終信號沒有明顯貢獻。

出處

《計量學名詞》。