《掃描電子顯微技術與X射線顯微分析》是1988年科學出版社出版的圖書，作者是戈爾茨坦。
《掃描電子顯微技術與X射線顯微分析》是1988年科學出版社出版的圖書，作者是戈爾茨坦。內容簡介本書介紹了掃描電子顯微技術和電子探針顯微分析的原理、儀器結構、實驗方法、圖象與化學成分分析，以及在固體和生物材料中的套用。1圖...
電子顯微鏡的工作是進入微觀世界的工作。我們平常所說的微乎其微或微不足道的東西，在微觀世界中，這個微也就不稱其微，我們提出用納米作為顯微技術中的常用度量單位，即1nm=10mm。掃描電鏡成像過程與電視成像過程有很多相似之處，而與...
掃描式X 射線顯微鏡可以利用吸收襯度成像，也可用相位襯度成像；可得到明場像，也可得到暗場像。光譜顯微鏡 所謂光譜顯微鏡是將某種光譜和顯微鏡相結合的技術。此類技術頗多，只要這種光譜能產生一種與觀察位置有關的信號，如透射光子的...
X射線顯微分析 X射線顯微分析是2009年公布的細胞生物學名詞。定義 套用X射線顯微分析器探測細胞或組織的微小區域內元素成分的技術。出處 《細胞生物學名詞》。
電子探針儀是 X射線光譜學與電子光學技術相結合而產生的。1948年法國的R.卡斯坦製造了第一台電子探針儀。1958年法國首先製造出商品儀器。電子探針儀與掃描電子顯微鏡在結構上有許多共同處。70年代以來生產的電子探針儀上一般都帶有掃描電子...
通過電子掃描同步系統和電子顯示，可使樣品中各種組成的分布情況，以放大的圖像直接顯示於螢光屏上。因此，電子探針X射線顯微分析儀是礦物研究工作中既能微觀觀察，又能同時分析微區成分的精密儀器。引用示例 學科：岩礦分析與鑑定 詞目：...
電子顯微技術在計量分析測定、立體觀察、圖像分析、電子工業、缺陷探測等領域都有著廣泛的套用。簡介 電子顯微鏡技術是20世紀重大發明之一。1986年諾貝爾物理學獎授予了電子顯微鏡的發明者盧斯卡和掃描隧道顯微鏡的發明者賓尼格和羅勒，他們的...
第一台掃描電子顯微鏡是1938年由德國人M.von阿爾登研製成功的。通常掃描電子顯微鏡附有X射線能譜和波譜分析裝置，可在觀察形貌的同時，快速得出該區域的化學成分。另外，在掃描電子顯微鏡上還可進行電子通道花樣分析，從而可研究試樣微區...
掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時，也...
BEX BEX是集背射電子和X射線成像於一體的新型微區分析技術，可以在SEM下同步、高效採集背散射電子圖像和元素麵分布圖。技術簡介 此前，基於SEM的顯微分析大多是靜態的、逐步進行的，並且高度依賴用戶經驗。操作人員通常根據SE/BSE灰度圖中...
微束X射線顯微分析系統是一種用於核科學技術領域的分析儀器，於2009年12月7日啟用。技術指標 X射線探測器：高性能Si-PIN探測器； 能量解析度（FWHM）：不大於180eV（5.9keVX射線）； 激發源：238Pu,241Am、低功率微束X射線管(高壓...
電子探針X射線顯微分析技術是六十年代發展起來的新技術，是專門進行微粒微量成份分析的有效方法。它可以分析小至—立方微米的固體樣品，而且通過電子掃描技術能直接顯示金屬、礦石、材料的微觀結構和元素分布。此書可供現代材料工業部門、冶金...
電子顯微學是用電子顯微鏡研究物質的顯微組織、成分和晶體結構的一門科學技術。簡介 電子顯微鏡是用一束電子照射到樣品上並將其組織結構細節放大成像的顯微鏡。根據成像特點，目前廣泛使用的電子顯微鏡有：①透射電子顯微鏡；②掃描電子顯微鏡...
掃描電鏡的解析度已由最初的500埃提高至50～30埃。電子顯微鏡的另一個發展是研製超高壓電鏡以增加解析度和對原樣品的穿透力。製成了3兆伏的加速電壓的超高壓電鏡，可用來研究整體細胞和物質的分子結構象或原子結構象。樣品製備技術 1665...
電子探針可以對試樣中微小區域微米的化學組成進行定性或定量分析，除做微區成分分析外，還能觀察和研究微觀形貌、晶體結構等。電子探針技術具有操作迅速簡便、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點，在冶金、...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體：倍率：15～100000，觀察範圍：9(H)×7(V)mm～1.3(H)×1(V)mm，解析度：8nm，觀察兩次電子圖像和反射電子...
微結構分析方法主要有光電子能譜技術、光譜分析技術、顯微分析技術、X射線分析技術等。光電子能譜技術包括X光電子能譜(XPS)和俄歇光電子能譜(AES)；光譜分析掛術包括紅外光譜(IR)和Raman光譜；顯微分析技術中有掃描隧道顯微鏡(STM)，...
電子探針顯微分析原理及其發展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術基礎上的，該儀器實質上就是這兩種儀器的科學組合。電子探針是運用電子所形成的探測針（細電子束）作為X射線的激發源來進行顯微X射線光譜分析的儀器。分析...
即利用X射線螢光進行定性和定量分析。它與電子顯微鏡的主要差別是電子顯微鏡利用電子衍射原理得到圖象；而電子微探針除利用X射線外，還利用電子顯微鏡中掃描技術以提供有關物質的狀態、組成和結構等多種信號。結構原理 電子微探針的結構原理...
第三節掃描透射電鏡的優點43 第四節掃描透射電鏡的缺點44 第六章掃描隧道顯微鏡45 第一節掃描隧道顯微鏡的工作原理45 第二節掃描隧道顯微鏡的基本結構46 第三節掃描隧道顯微鏡的套用優勢47 第七章X射線顯微分析48 第一節X射線顯微...
第11章 入射X射線束和固體的作用 前言 微分析（microanalysis）是在歷史悠久的顯微術（microscopy）基礎上發展起來的一門新興交叉學科，推動它發展的技術基礎是20世紀50年代以來逐漸普及的透射電子顯微術（TEM）、掃描電子顯微術（SEM）以及...
1950年，Albert Coons和Melvin Kaplan發明了免疫螢光顯微技術。1965年，我國研製成功第一台電子顯微鏡，放大倍數為20萬倍。過去的幾個世紀，顯微鏡從傳統的光學顯微鏡發展到第二代電子顯微鏡和第三代掃描探針顯微鏡。分類 根據顯微原理分...
《電子顯微分析》作為學習電子顯微分析技術的入門書，主要介紹透射電子顯微術（電子衍射、質厚襯度像、衍射襯度像）、掃描電子顯微術（包括背散射電子衍射和環境掃描顯微鏡）、電子探針和微分析（能譜與波譜）以及掃描探針顯微術（掃描隧道...
1．2．4 冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM）1．2．5 掃描透電鏡（STEM）1．3 掃描電鏡的發展趨勢 第2章 掃描電鏡的原理、結構及套用技術 2．1 基礎知識 2．1．1 解析度 2．1．2 放大倍率 2．1．3 像差 2．1．4 電子束斑 2．2...
新納米材料的發現需要通過先進的分析技術和技能來獲取高質量的圖片，從而幫助我們理解納米結構，以達到改進合成方法和提高性能的目的。例如場發射槍、背散射電子的探測、X射線元素的圖像化等，已經很大程度地提高了掃描電子顯微鏡在納米材料...
