基質輔助雷射飛行質譜

基質輔助雷射飛行質譜是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年09月23日啟用。

基本介紹

• 中文名：基質輔助雷射飛行質譜
• 產地：德國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2015年09月23日
• 所屬類別：分析儀器 > 質譜儀器 > 有機質譜儀

技術指標

常規台式MADIL-TOF 質譜儀。

主要功能

寬的檢測範圍，適合用於小分子化合物，聚合物蛋白質和多肽分析。