基質輔助雷射非吸電離飛行時間質譜儀

基質輔助雷射非吸電離飛行時間質譜儀是一種用於化學、生物學領域的分析儀器，於2017年12月7日啟用。

基本介紹

• 中文名：基質輔助雷射非吸電離飛行時間質譜儀
• 產地：德國
• 學科領域：化學、生物學
• 啟用日期：2017年12月7日
• 所屬類別：分析儀器 > 質譜儀器

技術指標

1. 基質輔助雷射解析電離源，配備自動清洗離子源裝置；2. 雷射光源為新型SmartBeam長壽命固定雷射器；3. 飛行時間質量分析器無軸、無網V行飛行管；4. 檢測器具有線性，反射和TOF/TOF模式；5. 完善的數據採集系統。

主要功能

可用於分子量測定和蛋白組學研究。