基質輔助雷射解析電離-飛行時間質譜

基質輔助雷射解析電離-飛行時間質譜

基質輔助雷射解析電離-飛行時間質譜是一種用於藥學領域的分析儀器,於2015年7月2日啟用。

基本介紹

  • 中文名:基質輔助雷射解析電離-飛行時間質譜
  • 產地:日本
  • 學科領域:藥學
  • 啟用日期:2015年7月2日
  • 所屬類別:分析儀器 > 質譜儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

測量範圍1-500KD(線性),1-80KD(反射),解析度250 amol - Glu-1-Fibronectin B,測量精度250 amol - Glu-1-Fibronectin B。

主要功能

測定生物大分子,微生物鑑定,藥品及藥包材研究。

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