基質輔助雷射解析飛行時間質譜儀

基質輔助雷射解析飛行時間質譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2003年9月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：基質輔助雷射解析飛行時間質譜儀
• 產地：美國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2003年9月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 質譜儀器 > 有機質譜儀

技術指標

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主要功能

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