基質輔助雷射解析時間飛行質譜儀

基質輔助雷射解析時間飛行質譜儀

基質輔助雷射解析時間飛行質譜儀是一種用於基礎醫學領域的分析儀器,於2014年9月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:基質輔助雷射解析時間飛行質譜儀
  • 產地:德國
  • 學科領域:基礎醫學
  • 啟用日期:2014年9月1日
  • 所屬類別:分析儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

1、TOF質量範圍:>100, 000 Da 2、TOF飛行路徑:≥90cm 3、MALDI源雷射頻率:1 ~ 60 H z範圍內任意連續可調 4、MALDI源雷射能量:最低80 μJ/pulse 5、TOF高質量端解析度:≥ 800@m/z16,952 FWHM 6、檢測樣品個數:96個/次 7、正、負離子檢測模式隨時切換 8、MALDI清洗方式:配備智慧型化紅外雷射自動清洗離子源裝置,通過軟體一鍵式完成離子源清洗,整個過程在15分鐘內完成,確保儀器長期穩定運行。

主要功能

可用於檢測、鑑定未知物質量信息,主要套用於蛋白質、多肽、多糖、核酸、聚合物等的質量檢測和結構分析,主要檢測純度較高、分子量較大的未知樣品,依據不同的樣品選擇不同的基質,不同的樣品也可以選擇正、負離子模式,此檢測方法對樣品破壞小,且理論檢測範圍可以達到200000Da。

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