基質輔助雷射解吸電離飛行時間質譜成像系統是一種用於基礎醫學、臨床醫學領域的雷射器，於2017年11月8日啟用。
基本介紹
- 中文名：基質輔助雷射解吸電離飛行時間質譜成像系統
- 產地：德國
- 學科領域：基礎醫學、臨床醫學
- 啟用日期：2017年11月8日
- 所屬類別：雷射器 > 雷射器 > 雷射器
技術指標,主要功能,
技術指標
1.第二代 Bruker 專利的Smarbeam-II? 雷射器：雷射頻率高達2kHz，並在1-2000Hz 之間可調；雷射聚焦直徑10-100um 可調；雷射能量可調。 2.高靈敏度、帶有可紅外雷射自動清洗程式的MALDI 離子源：具有第二代Bruker專利的PAN?全景聚焦式脈衝離子提取技術，可在寬質量範圍同時獲得高準確度和高解析度；基於紅外雷射照射的離子源快速自動清洗，十五分鐘內即可完成源的清洗。 3.高性能飛行時間質量分析器：TOF質量分析器、檢測器和離子源均配有超高穩定性的2 kHz 電子組件。 4.Bruker最新專利的FlashDetector?檢測器。
主要功能
最新一代基質輔助雷射解吸電離飛行時間質譜儀，可用於蛋白與多肽測定、組織成像、核酸分析、微生物快速鑑定、生物標誌物發現等研究領域。
