基質輔助雷射解吸電離串聯飛行時間質譜

基質輔助雷射解吸電離串聯飛行時間質譜是一種用於生物學、基礎醫學領域的分析儀器，於2011年12月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：基質輔助雷射解吸電離串聯飛行時間質譜
• 產地：美國
• 學科領域：生物學、基礎醫學
• 啟用日期：2011年12月9日
• 所屬類別：分析儀器 > 質譜儀器

技術指標

1kHz的smartbeam-II雷射器，保證了MS和MS/MS模式下超高的譜圖採集速度。 10 μm的雷射束直徑，很容易實現高解析度的圖像採集。專利的PAN寬域離子聚集技術，可以在寬質量範圍內達到40,000以上的高質量解析度。專利的FlashDetector檢測器和新型的4GHz數字轉換器使質量準確度高達，大大提高了鑑定的可信度。Perpetual離子源可進行快速的自動清洗。其一鍵式清洗功能是高通量的快速質譜分析不可或缺的。

主要功能

樣品檢測。