基質輔助雷射解析電離飛行質譜儀

基質輔助雷射解析電離飛行質譜儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2017年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：基質輔助雷射解析電離飛行質譜儀
• 產地：日本
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2017年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

1．配置及技術性能要求1.1 樣品處理1.1.1 全自動樣品導入機械裝置1.1.2 XY坐標樣品台(10微米/步， 10微米重現性) ， 針對微量樣品板使用1.1.3 2mm厚空白靶板, 或帶有 96。

主要功能

微生物分型檢測，蛋白質鑑定，胺基酸序列分析。