低溫測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的儀器,於2009年4月3日啟用。
基本介紹
- 中文名:低溫測量系統
- 產地:英國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2009年4月3日
低溫測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的儀器,於2009年4月3日啟用。
低溫測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的儀器,於2009年4月3日啟用。技術指標最低溫度:-2K;磁場強度:18特斯拉。1主要功能電阻係數及霍爾效應測量。1...
He極低溫測量系統 He極低溫測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2009年10月22日啟用。技術指標 溫度:0.36K-400K,精度:0.5%, 磁場:0-9Tesla, 轉角精度:0.1。主要功能 提供低溫,磁場條件及比熱、電阻、VSM,Hall等物性測量系統。
低溫物性測試系統 低溫物性測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2003年04月03日啟用。技術指標 磁場:14T;溫度 2K-400K;He3下,500mk。主要功能 提供變溫。磁場條件的環境,測量物性。
低溫四探針測量系統 低溫四探針測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2010年11月9日啟用。技術指標 液氮溫度,0.5T磁場,雙直流,雙交流探針。主要功能 器件微波傳輸特性測試。
超導量子器件低溫綜合物性測量系統 超導量子器件低溫綜合物性測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2018年6月22日啟用。技術指標 驗收時最低溫能到10mK,20mK時製冷功率>20uW。主要功能 微波頻段微弱信號檢測。
低溫直流超導量子干涉測量系統 低溫直流超導量子干涉測量系統是一種用於物理學、電子與通信技術領域的特種檢測儀器,於2015年4月30日啟用。技術指標 使用溫度4.2K,噪聲水平5微磁通量子/根號赫茲。主要功能 超導重力梯度儀的組成部件,低溫磁通測量。
低溫原子結構分析與譜學測量系統 低溫原子結構分析與譜學測量系統是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2018年6月30日啟用。技術指標 設備技術指標達到驗收要求。主要功能 低溫高真空原子力顯微鏡實驗。
電學測量低溫恆溫系統 電學測量低溫恆溫系統是一種用於化學領域的科學儀器,於2015年11月19日啟用。技術指標 四通道,液氮溫度。主要功能 電學特性多通道。
液氦低溫磁光測量系統是一種用於物理學領域的科學儀器,於2019年11月8日啟用。技術指標 1、溫度可控變化,液氦製冷時溫度最低可達4K,最高溫度可達500K; 2、極向克爾磁滯回線測量; 3、克爾成像解析度1μm; 4、對1 μm 極小局部區域進行成像同時進行磁滯回線掃描 ; 5 、垂直磁場範圍±0.5T。主要功能 通過...
高低溫磁性測量系統 高低溫磁性測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2010年12月1日啟用。技術指標 量程5×1000000~103emu。主要功能 測量等變溫磁化強度。
低溫高壓PVT測試系統 低溫高壓PVT測試系統是一種用於材料科學領域的電子測量儀器,於2013年5月15日啟用。技術指標 溫度顯示精度:±0.1℃ 溫度測量精度:±0.1℃。主要功能 實驗測試。
極低溫強磁場綜合物性測量系統 極低溫強磁場綜合物性測量系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2014年03月21日啟用。技術指標 16特斯拉強磁場、50mK極低溫、液氦自循環。主要功能 強磁場極低溫物性測量。
高低溫鐵電測試系統 高低溫鐵電測試系統是一種用於物理學領域的電子測量儀器,於2018年09月20日啟用。技術指標 溫度77K-600K,電極化測量系統。主要功能 變溫環境下鐵電測量。
製冷及低溫測試系統及綜合實驗台是一種用於測繪科學技術、動力與電氣工程、電子與通信技術、交通運輸工程領域的電子測量儀器,於2014年6月11日啟用。技術指標 測量微壓差及溫差信號。主要功能 與建環專業暖通空調實驗系統配合使用,測試風管及水管壓力及溫度等參數波動信號,研究其波動過程及產生的影響。
分立器件低溫老化探針測量系統 分立器件低溫老化探針測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2015年8月10日啟用。技術指標 測試溫度:5K-350K;測試頻率:DC-40GHz;樣品最大尺寸:3英寸。主要功能 無製冷劑,變溫,直流,微波無損測試系統。
低溫磁場測試系統 低溫磁場測試系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2010年11月16日啟用。技術指標 液氦製冷,強磁場,快速變溫,實時控溫。2602源測單元,2182納伏表配套使用。主要功能 電學測試。
磁光低溫系統 磁光低溫系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2007年9月10日啟用。技術指標 * 溫度範圍:4.4k-300k; * 控溫精度:±0.5% * 磁場範圍:±6T; * TPX光學視窗兩個,直徑12mm * 樣品空間:Ф12mm。主要功能 為太赫茲波段物性測量提供低溫和磁場環境。
強磁場低溫系統 強磁場低溫系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2011年01月01日啟用。技術指標 最大磁場15T, 最低溫度300mK。主要功能 低溫時測量樣品在磁場下電學輸運性質。
2、產品小型化及操作簡單化 小尺寸的磁場強度輸入系統使用永磁體和液氮低溫測量系統(77k),確保儀器操作非常簡單;兩種不同尺寸的傳統樣品板(20*20mm、6*6mm)及帶彈簧夾片的樣品板(spcb),使得不同尺寸不同材料的薄膜樣品更容易測量,區別於傳統樣品板的彈簧夾片樣品板使得霍爾電極製作更方便且對樣品損傷更小。
低溫磁學系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2017年03月29日啟用。技術指標 1、在產生最高達14特斯拉,高均勻性的穩態強磁場環境下可進行各種無液氦低溫交直流磁學測量。2、使用脈衝管式製冷直接傳導製冷,1.9K-400K連續變溫,從300K降至1.9K穩定小於40min。3、掃描速率30-300Oe/sec.4、磁場解析度小於等於0....
超高真空低溫掃描探針系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2019年10月12日啟用。技術指標 XPS能量解析度:Ag 3d5/2 峰能量解析度優於0.5eV。主要功能 超高真空原子力顯微鏡系統是一種國際領先的原子力顯微技術。通過對測量環境的嚴格控制(本底真空優於1*10-10mbar)以及對樣品及探針的冷卻(低於5K)可...
小尺寸的磁場強度輸入系統使用永磁體和液氮低溫測量系統(77K),確保儀器操作非常簡單;兩種不同尺寸的傳統樣品板(20*20mm、6*6mm)及帶彈簧夾片的樣品板(SPCB),使得不同尺寸不同材料的薄膜樣品更容易測量,區別於傳統樣品板的彈簧夾片樣品板使得霍爾電極製作更方便且對樣品損傷更小。I-V曲線及I-R曲線測量 採用...
多腔低溫杜瓦微波測試及輔助系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2017年6月22日啟用。技術指標 被測超導腔頻率:162.5MHz,325MHz, 650MHz; 功率源功率:寬頻200W;頻率範圍: 162.5MHz-650MHz; 網分掃頻範圍:100K-4.5GHz; 頻譜測量範圍:9k-3GHz; 連鎖保護時間:1us; 主要測量參數:...
與室溫溫度測相比,低溫系統中的要求更加嚴格。低溫條件下,系統微小的漏熱都會影響測量的精度,為了保證精度和可靠性,必須根據具體要求選擇合適的溫度計和測量方案,並對系統漏熱進行充分的估計和預防。溫度計的安裝方法也是必須重點考慮的方面,另外對溫度測量過程中產生的自熱效應,對於高精度測量也是必須著重消除的...
磁性測量系統是指對材料物理性質,如磁學、電學、熱學乃至鐵電、介電等物性進行測試的設備。PPMS PPMS綜合物性測量系統是一款對材料的各種物理性質進行基礎研究的儀器。PPMS系統的設計理念是在一個極低溫(50mK)和強磁場(±16T)平台上,集成全自動的磁學、電學、熱學和形貌,甚至鐵電和介電等各種物性測量手段。這樣的...
綜合測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2009年5月4日啟用。技術指標 配備有He3制冷機,溫度範圍為0.4K-400K,磁場範圍為-140000Oe至+140000Oe,1 T以內的磁場解析度為 0.02 mT,控溫模式為連續低溫控制和溫度掃描模式溫度穩定性 ±0.2% T < 10K;±0.02% T > 10K。主要功能 可以提供極低溫高...
《低溫強磁場超高真空原位微區輸運測量系統的研製》是依託上海交通大學,由賈金鋒擔任項目負責人的專項基金項目。項目摘要 在極低溫和強磁場下對超高真空中製備的低維樣品進行原位的電子輸運性質的測量是這方面科學家一直追求的重要方向,這樣不僅可以對納米線、超薄膜這樣的納米結構體系進行輸運性質研究,也是研究新量子...
PPMS即 Physical Property Measurement System 綜合物性測量系統。概念 定義 PPMS——Physical Property Measurement System 是美國Quantum Design公司開發的一款對材料的各種物理性質進行基礎研究的儀器。PPMS系統的設計理念是在一個完美控制的極低溫(50mK)和強磁場(±16T)平台上,集成全自動的磁學、電學、熱學和形貌,甚至...