低溫四探針測量系統

低溫四探針測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2010年11月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫四探針測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2010年11月9日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

液氮溫度，0.5T磁場，雙直流，雙交流探針。

主要功能

器件微波傳輸特性測試。