分立器件低溫老化探針測量系統

分立器件低溫老化探針測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2015年8月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：分立器件低溫老化探針測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2015年8月10日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

測試溫度：5K-350K；測試頻率：DC-40GHz；樣品最大尺寸：3英寸。

主要功能

無製冷劑，變溫，直流，微波無損測試系統。