He極低溫測量系統

He極低溫測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2009年10月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：He極低溫測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2009年10月22日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

溫度：0.36K-400K，精度：0.5%， 磁場：0-9Tesla， 轉角精度：0.1。

主要功能

提供低溫，磁場條件及比熱、電阻、VSM，Hall等物性測量系統。