低溫物性測試系統

低溫物性測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2003年04月03日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫物性測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2003年04月03日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

磁場：14T；溫度 2K-400K；He3下，500mk。

主要功能

提供變溫。磁場條件的環境，測量物性。