X射線計算機斷層掃面系統

X射線計算機斷層掃面系統是一種用於臨床醫學領域的醫學科研儀器，於2014年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線計算機斷層掃面系統
• 產地：中國
• 學科領域：臨床醫學
• 啟用日期：2014年1月1日
• 所屬類別：醫學科研儀器 > 影像診斷儀器 > X射線斷層掃描診斷儀

技術指標

Discovery CT750 HD的寶石探測器和先進的ASiR疊代技術，在保證優秀圖像質量的前提下，實現了超低劑量掃描。

主要功能

提供高清效果的電腦掃描器，為電腦掃描定下清晰、低劑量。