CT斷層掃描X射線衍射系統

CT斷層掃描X射線衍射系統是一種用於力學、物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2017年4月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：CT斷層掃描X射線衍射系統
• 產地：荷蘭
• 學科領域：力學、物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2017年4月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

最大光管電壓60KV,最大光管電流100mA;PIXcel全能矩陣探測器，計數矩陣256X256 pixcel,空間解析度55x55μm;高溫2300度；低溫12K。

主要功能

粉末物相分析；薄膜物相分析；高低溫物相分析。