X射線衍射系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2015年12月7日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線衍射系統
- 產地:荷蘭
- 學科領域:化學、材料科學
- 啟用日期:2015年12月7日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
X射線衍射系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2015年12月7日啟用。
X射線衍射系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2015年12月7日啟用。技術指標X射線高壓發生器:最大輸出功率:≥4KW;最大管電壓:≥60KV;最大管電流≥60mA; X射線燈管:最大電壓:≥60KV;最大電...
(4) 衍射圖的處理分析系統 現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計算機系統, 它們的特點是自動化和智慧型化。最新進展 自1912年勞厄等發現硫酸銅晶體的衍射現象的100年間,X射線衍射這一重要探測手段在人們認識自然、...
X 射線衍射儀主要採集的是地層中各種礦物的相對含量,並系統採集各種礦物的標準圖譜,包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白雲石、黃鐵礦等近30 種礦物成分,通過礦物成分的相對含量就可以確定岩石岩性,為現場岩性定名提供定量化的參考依據...
X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射,對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而...
該分析系統主要由三部分組成:X射線源、蛋白質品體和檢測器。一細束X射線打到蛋白質晶體上,有一部分直接穿過晶體,其餘的向不同方向衍射。X線片可以接受衍射光束,感光乳劑的發黑程度與衍射光束的密度成比例。經計算機可繪製三維電子密度...
X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發生器、測角儀、X射線強度測量系統以及衍射儀控制與衍射數據採集、處理系統四大部分組成。儀器分類 “X射線衍射儀可分為X射線粉末衍射儀和X射線單晶體衍射儀,由於...
衍射儀系統是一種用於化學、地球科學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2004年12月31日啟用。技術指標 X射線高壓發生器:最大功率16 kW,最大電壓40kV,最大電流40mA;陶瓷X光管:Cu靶;掃描模式:θ-θ偶合聯動;掃描範圍:0.5-...
Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任選 8、測角儀半徑:300mm。主要功能 小角、廣角X射線衍射; 系統模組化設計,切換無需重新對光; 測角儀準直,自動PHA校正,衍射輪廓線測量,連續掃描,步進掃描,重複掃描,淨強度測量,存儲測量條件等。
HRD3000高分辨衍射儀是Ital structures 公司最新型衍射系統,該儀器設計精巧、結 構緊湊、數據精確、使用簡便、功能強大,廣泛套用於科研和工業系統。套用領域:環境工程、土壤/岩石、粘土、礦物、陶瓷、水泥、玻璃、石油催化劑、聚合物、...
X-射線衍射儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年5月13日啟用。技術指標 1最大輸出功率:3kW 2最大電壓:60kV 3最大電流:60mA 4金屬陶瓷X光管,Cu靶 2.2kW 5 光學編碼盤,直接光學定位。主要功能 精確地對樣品進行物相...
孿晶和粉晶測試,粉晶用量僅為0.1mm3。主要功能 單晶X射線衍射是一種廣泛套用的分析技術,用以測定一個新化合物(晶態)分子的準確三維空間(包括鍵長、鍵角、構型、構象乃至成鍵電子密度等)及分子在晶格中的實際排列狀況。
粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2003年12月1日啟用。技術指標 功率2/3kW; 穩定度≤0.005%,最快定位速度:1000˚/min,角度重現性:0.0001˚,最小步長:0.002˚(θ),閃爍計數器線性範圍:2 x 10^6...
單晶X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2006年10月30日啟用。技術指標 CCD探頭無束錐,1:1耦合,光學纖維長度僅1mm,映象面積62mm×62mm,4K CCD晶片,磷光膜可同時使用於Mo和Cu靶光源,Mo、Cu光源互換簡便。主要功能 單...
單晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年7月1日啟用。技術指標 使用PILATUS200K全新平面探測器;測量時,可以連續掃描,不需要關閉快門,直到數據採集完成;不像傳統的IP或CCD需要不停開閉快門;無暗電流,無噪音,可以長...
多道分析器:總道數≥500道 從光管陽極到樣品的距離≤16mm,以充分利用光管的X射線發射強度,保證測量靈敏度。 位置面罩轉換器,適合做不同尺寸的樣品,電腦控制自動轉換。 充氦液體測量系統(包括不鏽鋼液體分析用樣品杯,液體樣品塑膠杯...
粉晶X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、能源科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年09月11日啟用。技術指標 垂直廣角測角儀:掃描方式2θ/θ聯動方式、最小步進0.0001度,半徑185mm~285mm、設定重複性0...
X射線粉晶衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月7日啟用。技術指標 包括長壽命X光管、X射線發生器、高精密測角儀、雙臂探測器系統,閃爍計數器,陣列探測器、標準樣品台,計算機控制系統、數據處理軟體、相關套用軟體和循環...
超高速新型探測系統;多用途測量系統及薄膜分析軟體;數據處理軟體,帶ICDD PDF-2資料庫。主要功能 外延薄膜X射線衍射儀能夠精確地對單晶或多晶樣品進行物相定性定量分析;薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析;結晶度分析、晶胞參數計算...
該系統應採用CMOS二維探測器的蛋白質單晶X射線衍射裝置,能滿足對蛋白質大分子進行快速數據收集、結構解析和快速蛋白質晶體篩選的套用。裝置應包括:大分子單晶衍射儀系統(轉靶X射線發生器及光路系統、測角儀系統、CMOS、數據檢測及處理...
攜帶型X射線衍射儀是一種用於土木建築工程領域的物理性能測試儀器,於2018年11月28日啟用。技術指標 環境工作溫度:-20℃~35℃; 環境濕度:0~75%; 供電系統:100~240V,50/60 Hz; 記憶體容量:40GB; 激發源:低功率X射線陶瓷管...
指標信息: 發生器最大功率:18kW(40kV-450mA) 左、右兩台衍射儀。由兩台計算機分別控制,可同時進行測量分析。 計數率線性範圍:1000kCPS。 探測系統暗本底:附屬檔案信息: 右衍射儀:帶Ge彎晶前單色器,去除Dα2射線。具有5°及2...
材料科學領域的分析儀器,於2017年12月7日啟用。技術指標 9KW 轉靶X射線發生器、θ-θ廣角測角儀、狹縫系統、標準樣品台- Z軸:-10 to 1mm、變溫範圍溫度4-300K。主要功能 粉末與薄膜材料4K極低溫X射線衍射。
雙光源單晶X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2016年11月08日啟用。技術指標 (1)Mo/Cu雙微焦斑系統,可自動切換;(2)全新CMOS二維陣列探測器,檢測器面積10cm×14cm;(3)Kappa四圓測角儀,角度重現性±0....
蛋白質X射線單晶衍射儀是一種用於生物學、藥學、化學工程、材料科學領域的分析儀器,於2018年4月17日啟用。技術指標 Cu微焦距光源不小於55W;全自動測角頭;二維探測器CPAD有效面積10cm×14cm;液氮低溫系統:100k~室溫;大分子晶體自動...
22X射線衍射原理 221倒易點陣 222晶體的極射赤面投影 223衍射幾何理論 224單個晶胞散射和理想晶體散射 225單個理想小晶體的散射強度 226多晶體衍射 23X射線衍射系統消光規律 231晶體結構...
+/– 0.0001° 7.X射線發生器:電源穩定度:0.005 %(外電源變化10%) 8.光學系統:發散狹縫、防散射狹縫, 能量解析度小於500 eV,無需Ni濾光 片,無Kβ,強度大於2.5*109 cps 9.水冷系統:分體式循環水冷系統,穩 ...