X射線衍射光譜儀

X射線衍射光譜儀

X射線衍射光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年4月14日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X射線衍射光譜儀
  • 產地:荷蘭
  • 學科領域:化學
  • 啟用日期:2011年4月14日
  • 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,

技術指標

初級準直器:3位以上程式控制, 適合重輕元素。 晶體選擇宙府遷講:≥5塊晶體, 必須含有2塊彎晶及人工多層膜晶體。 多道分析器:總道數≥500道 從光管陽極到樣品的距離≤16mm,以充分利用光管的X射線發射強度邀碑熱,保證測量靈敏度。 位置面罩轉換器,適合做不同尺寸的樣品,電腦控制自挨鞏祝動轉換。 充氦液體測量系統(包括不鏽鋼液體分析用樣品己殼和杯,液體樣品塑膠迎踏放杯,麥拉膜等)夜舟戒囑 探測器系統 探測器類型:流氣式探測器+閃爍式探測器+附加探測器。 最大計數率:流氣式: 3000kcps,閃爍式: 1500kcps,附加探測器4500kcps。 非線性度:最大計數率範圍內偏差不大於1% 脈衝收縮修正:自動動態調整(可選擇開/關) 死時間修正:電腦自動處理 測角儀 形式:/2獨立轉動, 帶光學編碼器,無機械磨損帶來的誤差。 掃描速度:可選擇從0.001 - 2 2/秒 重複性:地犁0.0001 /2 溫度穩定性:在環境溫度10-40C時保持0.05 C。

主要功能

樣品的晶體結構、物相分析。

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