3D形貌顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2017年06月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:3D形貌顯微鏡
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學、機械工程
- 啟用日期:2017年06月15日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
3D形貌顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2017年06月15日啟用。
3D形貌顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2017年06月15日啟用。技術指標放大倍數:光學20-2000X,電動變焦;物理景深:最大可達到34mm;載物台:電動載物台,X/Y軸行程40mm,Z軸測量范...
3D雷射共聚焦形貌測量顯微鏡是一種用於物理學、化學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器,於2014年7月8日啟用。技術指標 光學變焦範圍:1-8倍;測定用雷射:408納米紫雷射;掃描頻率:4-120Hz(面掃描),7900Hz(線掃描...
西默裸眼3D顯微鏡是一種臨床醫學領域的科學儀器,西默裸眼3D顯微鏡是蘇州西默醫療科技有限公司旗下產品 套用場景 對術者—裸眼3D,即刻實現顯微全科;清晰立體的顯示口腔內部立體結構,適用口腔各科套用;簡化了顯微鏡使用難度,提高顯微鏡使用...
徠卡立體顯微鏡是一種用於物理學、安全科學技術領域的分析儀器,於2014年11月27日啟用。徠卡體視顯微鏡與巨觀顯微鏡可在二維和三維方向上觀察、分析和記錄樣品,體視顯微鏡等產品可根據科研、實驗、教學或工業的不同要求提供搭載LED照明和...
三維掃描共聚焦顯微鏡是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2019年6月17日啟用。技術指標 位移範圍:100mm×100mm×100mm;樣品表面結構:Ra>9nm,Lc=2μm;最大樣品高度:100~345mm;最大樣品重量:30kg;最佳水平解析度:0.44μ...
OLS41003D雷射共聚焦顯微鏡 OLS41003D雷射共聚焦顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年1月1日啟用。技術指標 1.放大倍數100-1000X。2.配有白光和雷射兩種照明方式。3具有微分干涉功能。主要功能 三維形貌、表面粗糙度等。
自動變焦三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2014年5月8日啟用。技術指標 位移範圍(X、Y、Z軸):100×100×100mm 樣品表面結構:表面形貌Ra>10-15nm,Lc=2µm 最大掃描面積:10000mm2 最小測量...
共聚焦雷射掃描顯微鏡(Confocal Laser Scanning Microscope,CLSM)是近十多年研製成的高光敏度、高解析度的新型儀器。它以雷射為光源,由共聚焦成像掃描系統、電子光學系統和微機圖像分析系統組成。光束經聚焦後落在樣品(組織厚片或細胞)不...
三維形貌與測厚儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年11月20日啟用。技術指標 . 顯微鏡:Multimode SPM掃描頭橫向(X-Y)範圍40μm×40μm豎直(Z)範圍20μm2. 噪聲:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 3. 樣品大小:直徑≤...
fps,實時觀測影像。垂直 (Z軸)解析度小於1納米,雙波長模式,測量台階單波長0.332um,雙2.1um。主要功能 準確測量物體三維形貌的新技術,具有非接觸式3D成像、自動相干補償、高解析度、實時檢測影像及相位測量等特點。
3D光學數碼顯微鏡是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2018年3月21日啟用。技術指標 顯微鏡包含多功能機架(7B48968201702),成像變倍頭(7J49200201709),顯示屏(46896037E),電動控制箱(7J50938201709),計算機工作站(4CV735...
3D彩色雷射掃描顯微鏡是一種用於化學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2018年6月5日啟用。技術指標 1.綜合倍率: 28000 倍以下,最大拍攝分析率:3072×2304 2.視野 (最小觀察範圍):11 μm 至 5400 μm 3....
DSX系列顯微鏡不僅能夠完成傳統顯微鏡的2D圖像拍照和測量,還能夠實現3D表面形貌的拍攝和提面積測量,能夠實現樣品的大景深擴展和大範圍圖片拼接,以及圖像後續處理等功能。奧林巴斯CX21 奧林巴斯UIS2無限遠校正光學系統,進一步提高光學品質 出色...
於2015年12月22日啟用。技術指標 1.共聚焦物鏡:5X、10X、20X、50X、100X; 2.干涉物鏡:50X; 3.樣品最大高度:40mm,立柱調節範圍:180mm; 4.工作檯行程X方向:150mm,Y方向:150mm。主要功能 表面形貌的光學測量。
1、用於微觀三維形貌觀察與測量、微觀幾何尺寸的測量;要求設備具有不低於20nm的測量精度,快速高效的測量實現方法;2、具有金相分析功能及高精度3D形貌測量;2D真彩色照片拍攝和測量;表面輪廓曲線和三維輪廓曲面測量;面粗糙度測量;線粗糙...
彩色3D雷射掃描顯微鏡 彩色3D雷射掃描顯微鏡是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2011年1月5日啟用。技術指標 解析度:0.12um。主要功能 微納結構3D檢測。
掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡(英語:Scanning Electron Microscope,縮寫為SEM),簡稱掃描電鏡,是一種電子顯微鏡,其通過用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面的圖像。電子與樣品中的原子相互作用,產生包含關於樣品的表面測繪學形貌和...
三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2016年06月01日啟用。技術指標 工作平台:可接納樣品不小於150x150mm,XY解析度0.078um,掃描平整度<1um/100mm,Z的量程2nm到50um 測量光筆1:量程>300um,精度0...
將雷射掃描出來的物體表面形貌圖像和彩色CCD拍攝的圖像合成一體,從而得到的真實彩色超景深3D圖像;利用408 nm雷射把物體的微觀細節掃描出來,從而可以得到比一般光學顯微鏡更清晰的圖像和可以得到更高的解析度;該顯微鏡可以在X-Y-Z實現10...
掃描形貌測量顯微鏡 掃描形貌測量顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的工藝試驗儀器,於2013年12月1日啟用。技術指標 最大倍率20000。主要功能 表面形貌測量。
3D測量雷射顯微鏡 3D測量雷射顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年9月30日啟用。技術指標 OLS4100。主要功能 內部試驗用。
最後,本項目的研究成果均已經得到了充分的實驗驗證:納米柵格形貌恢復實驗和原子力顯微鏡的懸臂樑形變恢復實驗驗證了本項目提出的靜態固定成像波長時形貌恢複方法,三維恢復精度最高可以達到100納米;微透鏡的三維形貌重建實驗驗證了基於光學...
電子雙重導航,操作方便,界面友好 2.8圖像觀測導航界面:光學導航界面與電子導航,與成像界面在同一螢幕上 2.9檢測信號:高靈敏度背散射電子探測器 2.10觀察模式:全面模式(形貌和成份)、形貌模式A(3D)、形貌模式B(3D) 2.11...
XYZ行程:200mmX200mmX100mmRMS重複精度:0.005nm垂直掃描範圍:0-20mm垂直掃描解析度:1nm最大縱向掃描速度:96um/secRa測量精度:≤0.1nm反射率要求:0.05%-100%顯微鏡鏡頭:2.75X,10X,50X,100X。主要功能 非接觸式形貌儀,...
選區衍射 · 0.2 至 5.0 m (9步) 高反差模式 · 0.2 至 2.0 m (7步) 高分辨模式。主要功能 具有成像和3D等多種功能,可實現材料微觀組織形貌分析,廣泛套用於材料科學,生物醫學,物理,化學,地質諸多研究領域。
光學面形測量系統是非接觸式3D表面輪廓形貌測量系統。可以對各種不同的樣品進行測量:透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理,以及納米至毫米級別的台階高度。也是一種高端顯微鏡,可用於樣品復檢或自動缺陷檢測。提供全面的...