高精度計算機斷層掃描系統

高精度計算機斷層掃描系統是一種用於力學、工程與技術科學基礎學科、材料科學、機械工程領域的特種檢測儀器，於2010年4月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：高精度計算機斷層掃描系統
• 產地：德國
• 學科領域：力學、工程與技術科學基礎學科、材料科學、機械工程
• 啟用日期：2010年4月1日
• 所屬類別：特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 高性能射線DR/ICT線上檢測裝置

技術指標

光源450kV大/小焦點；225kV微焦點μCT；探測器（1）LDA：2356 pixel（2）XRD：2048 Pixel；空間解析度—XRD7 Lp/mm；空間解析度—LDA6Lp/mm；細節解析度≤50µm。

主要功能

三維內部微結構無損檢測。