高溫環境掃描電子顯微鏡是由北京中科科儀技術發展有限責任公司完成的科技成果，登記於1995年10月31日。
成果名稱 | 高溫環境掃描電子顯微鏡 |
成果完成單位 | 北京中科科儀技術發展有限責任公司 |
批准登記單位 | 北京市科學技術委員會 |
登記日期 | 1995-10-31 |
成果登記年份 | 1995 |
高溫環境掃描電子顯微鏡是由北京中科科儀技術發展有限責任公司完成的科技成果，登記於1995年10月31日。成果信息成果名稱高溫環境掃描電子顯微鏡成果完成單位北京中科科儀技術發展有限責任公司批准登記單位北京市科學技術委員會登...
高溫高壓原位掃描電子顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2019年11月6日啟用。技術指標 解析度： 高真空模式優於1.5nm(30kV),4nm(1kV) 低真空模式優於1.8nm(15kV)。主要功能 該儀器包含場發射掃描電鏡主機，以及離子濺射儀和...
ESEM是環境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope)的英文縮寫。由於在它物鏡的下極靴處裝有一壓差光闌(pressurelimitedaperture),使得在保證電子槍區高真空的同時,允許樣品室內有氣體流動,最高達50Torr,一般1Torr～20Torr,因此,...
環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、地球科學、材料科學領域的分析儀器，於2003年01月15日啟用。技術指標 解析度：3.5nm(30kv，高真空模式)；放大倍率：5～200000倍 加速電壓：30KV 樣品最大尺寸：X=50mm，Y=50mm，Z=50mm ...
同義詞 sem(掃描電子顯微鏡)一般指掃描電子顯微鏡 本詞條由“科普中國”科學百科詞條編寫與套用工作項目 審核。掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介於透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, ...
熱場掃描顯微鏡是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2013年9月4日啟用。技術指標 放大倍數：12 - 900,000x 加速電壓：0.1 - 30 KV 低壓範圍：2-133Pa？ 樣品台：5軸驅動，X = 130mm ，Y = 130 mm ，Z = 50mm ，...
高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡 高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年12月1日啟用。技術指標 採用1.5kw鹵素光源紅外反射集光，形成10。主要功能 span style=font-siz。
熱發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學、化學、物理學領域的分析儀器，於2018年3月2日啟用。技術指標 解析度：SE解析度達到或優於2 nm @ 30 kV;BSE解析度達到或優於4 nm @ 30 kV; 低真空SE解析度達到或優於4 nm @ 30 kV；低...
ZEISS熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、能源科學技術領域的分析儀器，於2016年1月1日啟用。技術指標 放大倍率：範圍:12×～1000,000×；工作距離：範圍可由1mm至50mm。主要功能 觀察材料表面微觀形貌。
1.在電子顯微鏡中樣本必須在真空中觀察，因此無法觀察活樣本。隨著技術的進步，環境掃描電鏡將逐漸實現直接對活樣本的觀察；2.在處理樣本時可能會產生樣本本來沒有的結構，這加劇了此後分析圖像的難度；3.由於電子散射能力極強，容易發生二...
掃描電子顯微鏡3是一種用於化學、生物學、農學、環境科學技術及資源科學技術學科領域的電子光學儀器，於2016年8月15日啟用。技術指標 解析度：3.0 nm @ 30 KV (SE 與W)、4.0 nm @ 30 KV (VP with BSD )；加速電壓：0.2-...
掃描電子顯微鏡和能譜分析儀是一種用於化學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術、安全科學技術領域的分析儀器，於2016年11月7日啟用。技術指標 1. 二次電子解析度:3.0nm（加速電壓=30kV，WD=5mm高真空模式）;7.0nm（加速電壓=3...
場發射環境掃描電子顯微鏡是一種用於表面形貌分析的設備。套用 可對各種各樣的樣品進行靜態和動態觀察和分析，在一定壓力的水蒸氣條件下進行各種物質的表面形貌分析和微區成分分析，避免樣品在真空條件下發生失水而發生表面形貌的變化，特別對...
掃描型電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器，於2017年7月14日啟用。技術指標 第四代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 燈絲的高解析度台式掃描電鏡。觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構，放大倍數要求可達130,000 倍。基於新一代...
中國科學院北京科學儀器研製中心與化工冶金研究所合作，發展KYKY-1500高溫環境掃描電子顯微鏡，試樣最高溫度可達1200℃，最高氣壓為2600Pa；800℃時解析度為60nm，觀察了室溫下的濕玉米澱粉顆粒斷面、食鹽的結晶粒子，以及在50Pa，900℃時...
