高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡

高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡

高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年12月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡
  • 產地:日本
  • 學科領域:數學
  • 啟用日期:2016年12月1日
  • 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

採用1.5kw鹵素光源紅外反射集光,形成10。

主要功能

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