高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：數學
- 啟用日期：2016年12月1日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
採用1.5kw鹵素光源紅外反射集光，形成10。
主要功能
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高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡
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