超高溫雷射共聚焦顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2010年12月14日啟用。
基本介紹
- 中文名：超高溫雷射共聚焦顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2010年12月14日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 雷射共焦顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
解析度 1.27 micron (使用超長工作距物鏡TOS 5X 0.16 micron ) 1.88 micron (使用超長工作距物鏡 TOS 10X 0.23 micron) 0.58 micron (使用超長工作距物鏡 TOS 20X 0.35 micron ) 0.51 micron (使用超長工作距物鏡 TOS 35X micron) 掃描速度: 平行15.73KHz, 垂直60Hz, 交錯率2:1 加熱方式:紅外線輻射加熱 溫度範圍: 50~1700℃ (R型) 溫度測量: R型熱電偶 後續在備註里。
主要功能
可以在控制氣氛和升降溫速率條件下用於固體材料或液體的表面觀察，實時獲得圖像。典型的套用有：金屬材料的相變、粉末的燒結、金屬或熔渣的熔化及凝固過程，金屬或陶瓷的晶粒長大，等等。
