高溫雷射共聚焦掃描顯微鏡

高溫雷射共聚焦掃描顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的計量儀器，於2015年12月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：高溫雷射共聚焦掃描顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學、機械工程
• 啟用日期：2015年12月16日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀

技術指標

1.SVF17SP高溫爐，最高溫度1700度，最大升溫速度1000度每分鐘，最大降溫速度-6000度每分鐘。2溫度控制精度為0.1度。3.SVF15FTC高溫爐，最高溫度1200度，拉伸載荷最大5000N，壓縮載荷最大2000N。4.掃描速度最大120幀每秒。

主要功能

主要用於固體材料和高溫熔體的表面觀察。可以在超高溫（1750℃）情況下實現對材料組織結構變化（熔融、結晶、凝固等）的實時和高清晰觀察與分析。