雷射掃面共聚焦顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2015年4月14日啟用。
基本介紹
- 中文名：雷射掃面共聚焦顯微鏡
- 產地：德國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2015年4月14日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 雷射共焦顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
Leica SP8。
主要功能
快速三維成像。
雷射掃面共聚焦顯微鏡
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