超高真空低溫掃描隧道顯微鏡系統

超高真空低溫掃描隧道顯微鏡系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2016年3月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：超高真空低溫掃描隧道顯微鏡系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2016年3月18日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 掃描隧道顯微鏡

技術指標

樣品最低溫度:4.543k；液氦溫度工作時間53.5小時以上；針尖粗調定位範圍：橫向±2.5mm×±2.5mm，縱向10nm；針尖定位穩定性：漂移值為0.11nm/h；Z通道噪音：2.938pm；最小遂穿電流：1pA；STM腔/制樣室真空度:3.8x10-11mbar/8.4x10-11mbar；進樣室真空度＜1×10-8mbr；操縱桿樣品變溫範圍：50K~1670K；可檢質量數範圍：1-300amu；靈敏度：4x10-14mbar。

主要功能

1 表征表面形貌結構；2 表征表面電子態性質。