低溫強磁場掃描隧道顯微鏡

低溫強磁場掃描隧道顯微鏡是一種用於化學領域的計量儀器，於2010年6月30日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫強磁場掃描隧道顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2010年6月30日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 掃描隧道顯微鏡

技術指標

低溫：0.4K；磁場：11T；穩定性：1.2°/小時，4K；解析度：原子分辨；超高真空8×10↑-11Torr。

主要功能

主要用於低維材料的性能檢測。