高分辨掃描隧道顯微鏡

高分辨掃描隧道顯微鏡是一種用於物理學領域的計量儀器，於2016年7月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：高分辨掃描隧道顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2016年7月19日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 掃描隧道顯微鏡

技術指標

該低溫高解析度掃描隧道顯微鏡具備極高的解析度和穩定性：在X-Y 方向小於0.05nm，Z方向小於0.02nm的超高空間解析度，最低溫度達到小於2K，Z 方向外加磁場11T。

主要功能

該設備主要研究新型低維材料和超導材料的原子結構、電子結構和原位電子輸運進行直接測量，同時可以進行材料的原位分子束外延生長。