《表面分析》是1980年科學出版社出版的圖書，作者是(日)染野檀、安盛岩雄。
表面分析是對固體表面或界面上只有幾個原子層厚的薄層進行組分、結構和能態等分析的材料物理試驗。也是一種利用分析手段，揭示材料及其製品的表面形貌、成分、結構或狀態的技術。表面分析概況自20世紀60年代中期金屬型超高真空系統和...
表面分析技術是一種統稱，指利用電子、光子、離子、原子、強電場、熱能等與固體表面的相互作用，測量從表面散射或發射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質譜、空間分布或衍射圖像，得到表面成分、表面結構、表面電子態及表面...
真空表面分析技術通常把固體與氣體的界面（或過渡區）稱為固體的表面。很多物理、化學過程，如氧化、腐蝕、摩擦、催化、吸附、電接觸和電子發射等都發生在表面，因而表面的微觀現象已成為基礎科學和工程技術的重要研究內容。技術介紹 表面...
《表面分析》是1980年科學出版社出版的圖書 ，作者是(日)染野檀、安盛岩雄。圖書簡介 半導體器件的發展需要更深入地了解半導體等固體表面的物理、化學等性質．近年來已研究出一系列用於固體表面分析的手段，其中最有效的主要有離子探針顯微...
《表面分析技術（精）》是2020年12月中山大學出版社出版的圖書，作者是約翰·C·維克曼，伊恩·S·吉爾摩，本書介紹表面分析主要技術，包括俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、二次離子質譜、低能粒子散射和盧瑟福背散射技術、表面分子振動...
表面結構分析、urace strui li二。7lflly S1S固體表面結構 (表面相中原子組成與排列方式)的實驗研究於段。主要用表 面分析技術如低能電子衍射、反射式高能電子衍射、場致離子 顯微鏡、俄歇電子能譜、外延X射線吸收精細結構、湯發射、 ...
真空表面分析，在真空或超高真空中對樣品表面的形貌、化學組分、原子結構、原子態和電子態等信息進行分析研究。研究內容 表面形貌是指表面的“巨觀”外形特徵；化學組分是指表面的元素組成、化學態及其在表面的分布；表面原子結構是指原子...
超高真空表面分析系統是一種用於化學領域的分析儀器，於2012年3月15日啟用。技術指標 PHOIBOS 100 多通道能量分析器技術指標： 100mm平均分析半徑；安裝法蘭為DN100CF； Ag3d5/2計數率/FWHM＞1.7 Mcps/0.85 eV,＞4.6 Mcps/1.00...
固體表面分析儀是科研人員在化學與材料科學領域內改善和調整表面特性，設計新型、特定性質的材料，如聚合物、紡織、陶瓷、玻璃、或表面活性劑等。通過測量巨觀固體物表面的流動電流或流動電壓（電勢），儀器給出了ZETA電位這樣一個重要的信息...
《材料表面現代分析方法》首先在緒論部分介紹了材料表面及其特性以及材料表面分析的主要內容，然後在其他章節介紹了電子與固體樣品的相互作用、電子光學基礎和研究材料表面常用的現代分析方法，包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針、X...
全自動表面應變分析系統是板材成形研究方面不可缺少的工具。此系統利用ASAME 軟體和照相機將兩維圖像轉換為三維圖像，從而自動地測試表面形貌和應變分布及成型極限曲線圖。ASAME Target 型號便於攜帶，可以現場測試各種尺寸和材料的樣品。專利...
深圳市材料表面分析檢測中心（“863檢測中心”）是深圳市政府於2004年投資建立的公共技術服務平台，是中國第三方檢測與驗證機構，具有中國合格評定國家認可委員會CNAS認可及計量認證CMA資質，檢測報告具有國際公信力，贏得了國內外眾多知名企業...
表面微觀分析系統是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年9月5日啟用。技術指標 放大倍數：20×-100,000×解析度：優於18nm,電子槍：1500小時CeB6燈絲 抽真空時間：10秒 加速電壓：5 / 10 /15 kV 三檔。主要功能 Phenom ProX 的...
《表面化學分析》是一系列中國國家標準。全文 GB/T 19499-2004 表面化學分析 數據傳輸格式 GB/T 19502-2004 表面化學分析 輝光放電發射光譜方法通則 GB/T 20175-2006 表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜係為參考物質的最佳化方法 ...
多功能材料表面測試分析系統是一種用於基礎醫學領域的分析儀器，於2014年12月31日啟用。技術指標 負載範圍： 1-100mN 測量面積： 50mm × 50 mm Z軸測量範圍： ± 2mm 解析度 X 軸： 100nm Y 軸： 100nm Z 軸: 60nm 測量...
鋼結構疲勞斷口表面分析儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2017年6月22日啟用。技術指標 1、工作電源：110—240V, 50/60Hz, ≤1000W 2、溫度： 15℃—30℃；濕度：≤80%RH 3、加速電壓：0.3kV—30kV連續可調...
電子束表面分析儀是一種用於數學領域的物理性能測試儀器，於2016年12月1日啟用。技術指標 SE解析度 15kV：0.8nm (工作距離≥3mm)1kV：1.1nm（工作距離≥1.2mm，減速模式）。主要功能 冷場發射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場發射電子...
《表面物理與表面分析》是2004年復旦大學出版社出版的圖書，作者是丁訓民。內容介紹 This textbook provides an lntroduction to surface physics， a growing branch of condensed matter physics，by presenting some basic concepts and ...
表面缺陷分析儀是一種用於數學領域的分析儀器，於2011年12月1日啟用。技術指標 1、放大倍數：4倍-100萬倍；2、最低解析度：1nm；3、加速電壓：200V-30KV；4、樣品室直徑：300mm寬，420mm深。主要功能 1、配備BSE探頭可以觀察不同...
金屬表面結構分析儀是一種用於自然科學相關工程與技術、材料科學領域的分析儀器，於2017年6月1日啟用。技術指標 1、X射線發生部 3kW。 2、測角儀 θ，2θ，聯動；θ，2θ，獨立。 3、動作範圍 2θ：-6°— 163°。主要功能 可...
表面成分分析儀是一種用於數學領域的計量儀器，於2016年12月1日啟用。技術指標 解析度：（二次電子、高真空）15kV時1.2nm、 1kV時2.2nm加速電壓：0.02～30KV放大倍數：10～2,000,000x。主要功能 有超高解析度，能做各種固態樣品...
表面形貌分析儀是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的工藝試驗儀器，於2013年1月8日啟用。技術指標 Z方向範圍: 0-327μm，精度≤0.1 nm ；台階高度重現性≤0.6nm； 探針半徑2um，壓力0....
論表面分析及其在材料研究中的套用 《論表面分析及其在材料研究中的套用》是科學技術文獻出版社出版的圖書，作者是黃惠忠。
2017全國表面分析科學與技術套用學術會議於2017年8月10日—13日在廣東省汕頭市舉辦。會議背景 為積極推動表面分析科學及其套用技術的發展，促進表面分析技術與其它學科的融合，加強同行之間交流與合作，建立表面分析的交流平台，促進表面分析...
表面顆粒分析儀是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器，於2018年05月02日啟用。技術指標 雷射405nm波長，雷射斑點直徑≤15um；支持樣品尺寸2in、3in、4in、6in和8in；可裝載樣品的最...
surface crystallography 利用表面分析方法研究晶體表面的原子組成和分布方式以及表面吸附層的晶體學分支學科。其基本內容是探究固體最表面層原子及其以下三至五層原子作二維周期性分布的規律和彼此間的相對位置。基本介紹 晶體學的一個新分支，...
全自動比表面分析儀是一種用於材料科學、冶金工程技術、化學工程領域的物理性能測試儀器，於2007年01月15日啟用。技術指標 1、採用“靜態容量法”等溫吸附的原理。性能滿足以下標準： 2、配備有液氮等溫夾，不能使用液氮液位感測器，以...
一旦AFM開始對樣品進行成像掃描，裝置隨即將有關數據輸入系統，如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰頂之間的最大距離等，用於物體表面分析。同時，AFM 還可以完成力的測量工作，測量懸臂的彎曲程度來確定針尖與樣品之間的作用力大小。三種模式的...
