表面成分分析儀是一種用於數學領域的計量儀器,於2016年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:表面成分分析儀
- 產地:英國
- 學科領域:數學
- 啟用日期:2016年12月1日
- 所屬類別:計量儀器 > 電子學計量儀器
表面成分分析儀是一種用於數學領域的計量儀器,於2016年12月1日啟用。
表面成分分析儀是一種用於數學領域的計量儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標解析度:(二次電子、高真空)15kV時1.2nm、 1kV時2.2nm加速電壓:0.02~30KV放大倍數:10~2,000,000x。1主...
電子束表面分析儀是一種用於數學領域的物理性能測試儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標 SE解析度 15kV:0.8nm (工作距離≥3mm)1kV:1.1nm(工作距離≥1.2mm,減速模式)。主要功能 冷場發射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場發射電子槍,使得束流更大、更穩定,具有超高解析度能力,低加速電壓下(1kV)二次電子...
表面分析是對固體表面或界面上只有幾個原子層厚的薄層進行組分、結構和能態等分析的材料物理試驗。也是一種利用分析手段,揭示材料及其製品的表面形貌、成分、結構或狀態的技術。表面分析概況 自20世紀60年代中期金屬型超高真空系統和高效率微弱信號電子檢測系統的發展,導致70年代初現代表面分析儀器商品化以來,至今已產生...
互連銅導線成分分析儀是一種用於自然科學相關工程與技術、材料科學領域的分析儀器,於2013年8月23日啟用。技術指標 光譜範圍:110nm至800nm; 解析度高達14pm,可同時分析60個元素.。主要功能 輝光放電光譜儀(GDOES)不僅可對表面/深度進行剖析,同時也可做成分分析。它對固體材料,如金屬,金屬合金鍍層,半導體,有機...
出現電勢譜(APS)用閾值法測定元素芯能級束縛能的大小,也是表面成分分析的一種手段。當靶原子受到入射能量為E0的電子轟擊時,如E0大於某一芯能級的束縛能EB(對費米能級EF而言),則這一能級上的電子可能躍遷到費米能級EF以上的某一位置,而在芯能級上留下空位(圖8a)。這時原子處於激發態;但激發的時間極為短...
最大負荷為10根色譜棒氫氣流量檢測器 :數字顯示掃描模式 :正常、空白和原點掃描;用PPS進行部分掃描(部分熱解選擇 )。主要功能 可對下列各物質進行分析 脂類、磷脂類 蠟、脂肪酸、合成脂和合成油 潤滑脂、潤滑油類、表面活性劑、各類工業脂類 原油、渣油和各類烴類物質 聚合物 食用油。
這是用來檢測材料的一種表面分析儀器,即是利用離子束把待分析的材料從表面濺射出來,然後再檢測出離子組分並進行質量分析。它是對微粒進行同位素分析的有力工具,但它不能直接分辨同量異位數和確認元素,也難以高效率地在環境樣品中尋找特定成分的微粒。操作模式 SIMS大致可以分為“動態二次離子質譜”(D-SIMS)和“...
管理表面鍍層鍍層厚度測定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測定儀)分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)日本精工電子有限公司(Seiko Instruments Inc.簡稱SII),於1978年領先於其他廠商,研究開發出日本第一台螢光X射線鍍層厚度測量儀-SFT155。經過二十多年的努力,現在的螢光X射線鍍層厚度測量儀能夠準確地...
離子束探針,以聚焦很細(1~2微米)的高能(10~20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面,使其濺射出二次離子並引入質量分析器,按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器,聚焦很細,為1~2微米。離子探針質量顯微分析儀 ionmicroprobemassanalyzer 簡介 簡稱離子探針。簡史 套用離子照射樣品...
有些膜厚儀採用二次螢光法,它的原理是物質經X射線或粒子射線照射後,由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態,此物質必需將多餘的能量釋放出來,而此時是以螢光或光的形態被釋放出來。螢光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的螢光的能量及強度,來進行定性和定量...
環保部門水質污染監測、表面污染檢測和其他有機污染物 7. 物理領域 光學器件和半導體元件研究 8.鑑定 古物古玩鑑定、公安刑事鑑定等其他領域。9.地質領域 現場探礦、礦石成分的定量定性分析和包裹體的研究等。歷史型號 全球第一台拉曼分析儀 spector RamanT”是一款功能強大的手提式拉曼光譜儀。此色散型光譜輕巧便攜,...
第一台電子探針是法國製成的,是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。1953年前蘇聯製成了X射線微區分析儀,以後英、美等國陸續生產。第一台掃描電子探針儀是美國於1960年製成,不僅能對試樣作點或微區分析,而且能對樣品表面微區進行掃描。原子序數12至22的元素要在真空下進行成分測定,原子序數12以內的...